超声波扫描（SAT检测）

超声波显微镜，英文名Scanning Acoustic Tomography，简称SAT。超声波显微镜分析是无损的检测方式，其通过图像及声波对比度判别样品内部分层、确定缺陷形状和尺寸、确定缺陷方位等。同时可以检测集成电路表面丝印打字重影、表面打磨、重新喷涂的真伪检测。

检测方法：

平面扫描，穿透扫描，以及多层面扫描的反射光hi来检测样品内部的分层，气泡等异常。

适用于：

失效分析禾可靠性分析

超声波扫描图片：

案例一：

案例二：

超声波扫描设备图片：

兔拉检测拥有专业的开发团队，检测结果准确，工期短，高效完成客户的需求。

实验室已配置低频15MHz、30MHz、50MHz、75MHz、到高频100MHz、230MHz等全系探头，可满足集成电路SOP、DIP、PLCC、TO、QFP、BGA 、 SOT、QFN、TQFP、DFN、Flip Chip、WLCSP、FCBGA等不同封装的集成电路及PCB板、IGBT、电容的检测需求。