性能测试能解决芯片这些问题，你知道吗？

当我们对元器件经过外观检测之后，却没有发现什么异常之后该怎么办呢？那当然是接着做电性能测试了，做电性能测试可以查查失效样品的功能异常与否，判断此样品是否影响上机使用！

电性能测试包括功能参数测试、直流（IV特性）测试。功能参数测试即是对照样品规格书进行测试，如有良品对照，可取得事半功倍的效果。直流（IV特性）测试是最直接，最快速判断样品失效的手段，但应特别注意，测试量程的限制，避免对样品造成二次损伤。

案例一：

对型号 CRM2512-FX-R500ELF 进行性能测试，来判断这个样品异常与否！

按照测试条件进行测试

工程师通过抽取 5 颗样品按规格要求，对电阻值项目进行性能测试，发现其中 4 颗样品电阻值不符合规格要求，从而判定这些样品性能测试不通过！

案例二：

对型号 AOZ1037PI-01 进行性能测试，来判断这个样品异常与否！

按照需求进行功能测试

工程师根据客户提供的 50 颗检测样品按规格要求，对 VOUT, IOFF, VFB, Output Current 进 行功能性检测，其实测结果均不符合规格要求，从而判定这些样品功能测试不通过！

电性能测试是通过专业的测试工具，模拟正常、异常条件来对器件及系统的各项性能指标进行评估的测试。通过电性能测试，我们能掌握电子元器件的绝缘阻抗、表面绝缘电阻、体积电阻率等多项数据和指标差值。越严格的元器件产品，需要测试的数据相应也越多。

相应的，采购在市场购买元器件时，对于这个芯片的性能有怀疑的，可以来兔拉检测进行做性能测试判断，因为如果检测样品来自原厂，电气参数测试应符合规格，而且参数值较稳定，偏差不大。而可疑的样品，往往测试参数波动较大，甚至直接超出规格。

另外，对于电性能测试，其失效模式大致又分为以下三种： 

1.连接性失效：包括开路、短路以及电阻值变化。这类失效容易测试，现场失效多数由静电放电（ESD）和过电应力（EOS）引起。

2.电参数失效：需进行较复杂的测量，主要表现形式有参数值超出规定范围（超差）和参数不稳定。

3.确认功能失效：需对元器件输入一个已知的激励信号，测量输出结果。如测得输出状态与预计状态相同，则元器件功能正常，否则为失效,功能测试主要用于集成电路。