安装App图标 移动端
仪器信息网
尊敬的会员请选择进入的厂商展位
开通仪会通服务,请联系客服人员
刘老师15718850776(微信同号)
企业微信二维码

半导体检测技术与高端仪器产业生态论坛

会议时间:2026年11月06日 09:00 -- 11月06日 17:00

票务类型 参会人数量
培训注册 :500元
日期:6月9日前
- +
大会注册【在读学生】:700元
日期:6月10日—11日
- +
大会注册【非在读学生】:1500元
日期:6月10日—11日
- +
手机号:
验证码: 获取验证码 重新获取(60s)
立即报名

你已报名该会议,请勿重复报名

确定
审核中

会议时间:11月06日 09:00 -- 11月06日 17:00

大会介绍

本次会议是线下参会,此为报名通道,商务合作及参会请联系张老师(手机号:18510282219,同微信号)

半导体产业是科技自立自强的战略基石,检测与计量测试贯穿芯片设计—制造—封装—应用全流程,是保障良率的"质量基础设施"。当前晶圆制造、先进封装、化合物半导体等环节对高端检测仪器与量测技术需求攀升,半导体检测技术与高端仪器正从"单点突破"走向"系统协同"的关键阶段。产业各方亟需一个能够打破信息壁垒、促进技术交流与供需对接的高能级平台。在这一背景下,仪器信息网、上海智检星科技有限公司拟联合漕河泾开发区运营公司,于2026年11月6日在漕河泾开发区共同举办"半导体检测技术与高端仪器产业生态论坛",本次论坛将聚焦检测技术突破、仪器创新应用与产业链协同发展,旨在搭建产学研用深度融合的交流平台,助力半导体产业高质量发展。

本次论坛落地漕河泾开发区,正是因为其具备得天独厚的产业生态支撑。漕河泾既是国内检验检测产业重要发源地之一,也是上海集成电路核心承载区,集聚了一批集成电路龙头企业和研发机构。依托上百家检测企业、7个国家级创新平台等深厚底蕴,园区已形成“技术研发—检测认证—场景应用”的完整产业链,能够为论坛的举办提供优质的土壤,为参会各方提供丰富的技术应用场景与协同创新资源。


活动主题:半导体检测技术与高端仪器产业生态论坛

会议规模:100人(线下)

会议地点:上海市徐汇区古美路1528号A7号楼(漕河泾开发区会议中心 · 文创厅)

会议时间:2026年11月6日(周五),09:00-17:00

参会对象:半导体芯片设计/制造企业技术负责人、质量负责人;第三方检测认证机构技术骨干、实验室负责人;科研院所与高校半导体/材料方向研究人员;检测仪器设备厂商产品经理、技术工程师;产业投资与服务机构投资人、产业分析师


主办单位:上海漕河泾新兴技术开发区科技创业中心有限公司、仪器信息网、我要测网

承办单位:上海智检星科技有限公司

协办单位:上海漕创经济发展有限公司、上海聚跃检测技术有限公司

会议日程

11月06日 半导体检测技术与高端仪器产业生态论坛 我要参会
  • 09:00--09:10 致辞 嘉宾致辞
  • 09:10--09:20 仪式 我要测网新域名发布仪式
  • 09:20--09:40 基于LA-ICP-MS的半导体材料分析 汪正 中国科学院上海硅酸盐研究所 研究员
  • 09:40--10:00 集成电路中的痕量分析技术 黄梦可 上海集成电路材料研究院 研发资深工程师
  • 10:00--10:20 长期稳定可靠的超纯水系统在半导体材料痕量分析中的应用 柴淑梅 乐枫生物 市场部经理
  • 10:20--10:40 茶歇 中场休息 · 展位交流(20min)
  • 10:40--11:00 晶圆键合工艺中旋转/倾斜失配的TEM定量分析 陈旭 湖北九峰山实验室 技术专家/高级工程师
  • 11:20--11:40 质谱技术在半导体先进封装检测及失效分析领域的应用 王昊阳 中国科学院上海有机化学研究所 课题组长/高级工程师
  • 11:40--12:00 G5化学品中ICP-MS检测难点攻克的思路分享 贺杨明 PerkinElmer 半导体销售负责人
  • 12:00--13:30 午餐 午餐及自由交流(90min)
  • 13:30--13:50 失效分析在芯片制造中的应用 周正良 上海聚跃检测技术有限公司 首席科学家
  • 13:50--14:10 从单一设备到多维检测能力-徕卡半导体光学量检测全方案介绍 倪啸 徕卡显微系统(上海)贸易有限公司 工业部产品经理
  • 14:10--14:30 面向半导体检测的微纳加工表征技术体系与案例 李伟 中国科学技术大学 微纳研究与制造中心 副主任/工程师
  • 14:30--14:50 日立电镜半导体前后道高效观测及纳米探针应用 周鸥 日立科学仪器(北京)有限公司 副部长
  • 14:50--15:10 工程ATE测试解析 程书龙 上海汽车芯片工程中心有限公司 测试专家
  • 15:10--15:30 茶歇 中场休息 · 展位交流(20min)
  • 15:30--15:50 双束电镜-透射电镜(FIB-TEM)在半导体器件表征中的应用 刘辰 广电计量检测集团(上海)技术有限公司 晶圆分析测试研发经理、博士
  • 15:50--16:05 AI+互联网:助力科学仪器与TIC创新发展 张小师 上海智检星科技有限公司 总经理
  • 16:05--16:20 AI + 数字化实验室:半导体检测实验室的智能化 赵磊 上海牵翼网络科技有限公司 副总经理
  • 16:20--17:00 参观 参观上海聚跃检测实验室

会议倒计时

  • 0
    天
  • 0
    小时
  • 0
    分
  • 0
    秒

往届会议

联系我们

联系人:张女士

电话:18510282219

手机:18510282219(微信同号)

Email:zhangli@instrument.com.cn

会议赞助:15718850776(微信同号)刘老师

关注微服务 参会不迷路

下载app 回看更便捷

您未报名本次会议,请联系主办方报名

本次会议由中国水产科学研究院主办,若无法参会,请直接联系中国水产科学研究院

联系人:杨臻
联系电话:010-6867124 158 0116 9739

确定
会议人员身份验证

获取验证码 重新获取(60s)
取消 确定

京公网安备:11010202007170号|京ICP备11012191号-2|营业执照证书|增值电信业务经营许可证|人力资源服务许可证|出版物经营许可证

公司名称:北京信立方科技发展股份有限公司|地址:北京市西城区新街口外大街28号普天德胜科技园B座4层

服务协议|隐私政策|Woyaoce.cn Copyright © All Rights Reserved,版权所有,未经书面授权,页面内容不得以任何形式进行复制