上海聚跃检测技术有限公司

个人简介:周正良，上海聚跃检测科技有限公司，首席科学家。自1996年起，深耕芯片制造30多年；1996年开始的两年多时间内，在意法半导体（新加坡）芯片失效分析和可靠性测试实验室，从事生产线和客户使用后的失效芯片的分析工作，并和生产线工程师一起找出失效原因及改进。1999年起，进入半导体制造，先后在格罗方德（特许半导体）、华虹宏力、粤芯半导体等，从事半导体制造中的工艺集成研发工作，先后任工程师、资深经理、总监和首席科学家职务。先后参与和主导了逻辑、模拟、存储、射频、CIS、传感器等工艺的研发和量产。从2012年开始，担任国家02专项射频高功率工艺责任单位华虹宏力的课题负责人，主持项目的研发工作并成功验收和量产。在存储器相关领域，团队荣获上海市科技进步二等奖。有专利超过50项，其中第一发明人超过15项，有美国专利5项。 查看更多