领域分类:半导体-晶圆
检测项目:失效分析,成分分析
服务地点:全国
使器件循环加载功率应力,加速器件芯片与安装表面之间所有键合界面和连接界面的应力,以此评估产品的可靠性,适用于各种封装的整流二极管、双极型晶体管、MOS场效应晶体管、IGBT管等间歇寿命试验和老练筛选
检测内容可用设备:整机可检测工位为20通道×16位=320位,功率加热电流:0.1~15.0 A,Vf检测范围0~±5000 mV,分辨率1mV
检测标准| 产品名称 | 检测标准 | 检测项目 |
| MIL-STD-750-1B:2022 方法1037.3 | MIL-STD-750-1B:2022 方法1037.3 | MIL-STD-750-1B:2022 方法1037.3 |
| MIL-STD-750-1B:2022 方法1036.3 | MIL-STD-750-1B:2022 方法1036.3 | MIL-STD-750-1B:2022 方法1036.3 |
| GJB 128B-2021 方法1037 | GJB 128B-2021 方法1037 | GJB 128B-2021 方法1037 |
广东中科晟测控技术有限公司(简称:中科晟),创立于 2014 年,是一家专注于环境与可靠性检测设备及解决方案、环境与可靠性检测服务及集成电路测试服务提供商。
目前,中科晟在全国规划设立了8个检测实验室和办事处,分布于重庆、成都、东莞、深圳、广州、上海、无锡、西安等十余个城市,以确保为客户提供从试验设备需求到试验技术服务一体化的环境与可靠性试验服务解决方案。
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广东中科晟测控技术有限公司位于广东省东莞市,为您提供间歇寿命试验,检测周期3-7天,检测价格电议,检测类型标准检测,送样方式不限,领域分类半导体-晶圆。