膜厚检测

    钙钛矿太阳能电池，半导体领域的涂层材料以及各种基底的薄膜材料，其膜厚是影响材料性能很重要的一个因素。那我们可以通过显微分析检测出材料的精确膜厚，为材料的制备和研究提供支持。扫描电镜型号是日本日立Hitachi SU8020，这是一款市场高端的冷场发射扫描电子显微镜。具有极高的分辨率，理论分辨率可以达到1nm。同时他具备低压减速模式，可以在低电压下观察导电性差的样品，提供了更多可能性。结合本公司的透射电子显微镜，原子力显微镜，金相显微镜等不同阶段显微分析，我们可以真实的得到样品不同尺度下的膜厚信息。另外本公司还具备椭偏仪，台阶仪，XRR等设备，可以通过光学或者X射线学的角度去分析膜厚，提供更加具备统计意义的膜厚数据。最后本实验室可以接受现场预约，跟踪拍摄服务。