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仪器信息网 3i讲堂 高灵敏之眼:科学相机驱动国产半导体缺陷检测的精度革命
[报告]高灵敏之眼:科学相机驱动国产半导体缺陷检测的精度革命
开始时间: 2025-10-23 10:00
主讲老师: 林静 | 半导体业务总监
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报告相关会议
第六届半导体材料与器件分析检测新技术网络研讨会
2025年10月23日 09:00 -- 10月24日 18:00
半导体产业是支撑现代电子信息产业发展的核心基础,随着新一轮科技革命和产业变革深入,半导体材料与器件的分析检测技术愈发成为产业创新的关键环节。为促进我国半导体材料、器件及装备技术的自主创新与国产化替代,仪器信息网拟于2025年10月23-24日举办第六届半导体材料与器件分析检测新技术网络研讨会。本届研讨会由仪器信息网主办,将聚焦四大核心专题:深度解析第三代半导体材料的结构与缺陷分析技术;创新设置材料成分与微污染控制专题,直击芯片制造过程中的质量控制痛点;深入探讨器件性能与可靠性评测的前沿方法;集中展示国产半导体检测仪器的技术突破与应用成果。主办单位:仪器信息网支持单位:电子工业出版社分享有礼!扫描二维码,点击“邀请有礼”生成专属海报,邀请 4 位用户报名,即可任选一本书籍《功率半导体封装技术》或《集成电路制造工艺》添加微信(15718850776)领取,截至时间10月24日18:00
报告介绍
报告介绍:
“国产半导体制程迈入7nm以下,缺陷检测面临 “纳米级缺陷捕获” 效率极低,传统系统难以支撑实时分析,同时半导体缺陷检测设备国产化率不足10%,核心设备依赖美日企业,导致采购成本高、维护周期长,后续升级困难等。鑫图光电深耕高端科研成像行业近20年,以专业的图像信号处理能力、超高真空深度制冷技术,超快的数据传输带宽,以及低至13.5nm,193nm等短波光谱成像工艺经验,为半导体行业提供科学级制冷高速TDI相机,以超高信噪比的专业图像,精确捕捉晶圆生产工艺段极其微小缺陷,为半导体设备的国产化提供核心成像解决方案。
主讲老师:
林静
鑫图光电半导体业务负责人,拥有15年成像领域全链条经验,历经研发、技术、市场、销售多职能淬炼。精通产品开发原理与行业标准,深度洞察用户需求。近年率团队深耕半导体量检测市场,深度掌握半导体量检测行业痛点与国产替代路径,为头部企业提供高行频TDI相机及深度制冷科研相机,突破多项卡脖子工艺难题。
参会说明:

一、报名贴士(敷衍填写将不予审核)

  • 1、请认真填写各项,您的手机号为您的参会凭证。

  • 2、报名后,参与直播可获取会后资料、加交流群。

二、参会方式(手机电脑均可参会)

  • 1、直播前一天,助教会统一审核。审核通过后,会发送参会链接给报名手机号。

  • 2、如无法正常参会,请拨打页面下方电话,帮您解决

三、会议资料(交流群,会后视频)

  • 1、报名并参与直播可与专家问答交流。会议群会在直播当天展示,会议ppt无法提供。

  • 2、关注【仪器信息网微服务】,微信提醒会议进度,便捷查阅近期会议及视频回放。

  • 3、下载【仪器信息网app】,获得会后回放视频、免费下载10万篇标准、获得实验室操作实战宝典等精品资料。

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