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我要测网 视频 高灵敏之眼:科学相机驱动国产半导体缺陷检测的精度革命
0 0 分享 57 2025-11-03
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高灵敏之眼:科学相机驱动国产半导体缺陷检测的精度革命

“国产半导体制程迈入7nm以下,缺陷检测面临 “纳米级缺陷捕获” 效率极低,传统系统难以支撑实时分析,同时半导体缺陷检测设备国产化率不足10%,核心设备依赖美日企业,导致采购成本高、维护周期长,后续升级困难等。鑫图光电深耕高端科研成像行业近20年,以专业的图像信号处理能力、超高真空深度制冷技术,超快的数据传输带宽,以及低至13.5nm,193nm等短波光谱成像工艺经验,为半导体行业提供科学级制冷高速TDI相机,以超高信噪比的专业图像,精确捕捉晶圆生产工艺段极其微小缺陷,为半导体设备的国产化提供核心成像解决方案。

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