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第四届精密测量与先进制造网络会议

会议时间:2025年12月17日 09:00 -- 12月18日 12:00

票务类型 参会人数量
培训注册 :500元
日期:6月9日前
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大会注册【在读学生】:700元
日期:6月10日—11日
- +
大会注册【非在读学生】:1500元
日期:6月10日—11日
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会议时间:12月17日 09:00 -- 12月18日 12:00

大会介绍

在全球科技竞争日趋白热化的背景下,半导体与航空航天作为国家战略的核心支柱,其发展水平从根本上取决于制造与测量技术的支撑能力。为深入探讨精密测量在关键领域的创新突破与产业赋能,仪器信息网携手中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所,将于2025年12月17-18日共同举办“第四届精密测量与先进制造网络会议”。本届会议以“从芯到翼:精密测量的尺度革命与产业赋能”为主题,深度聚焦半导体、航空航天与国产精密测量仪器三大专场,覆盖从技术前沿到产业应用的全链条视角。

半导体制造已步入微纳尺度,微观的尺寸偏差或缺陷将直接导致芯片性能的根本性变化;与此同时,航空航天器正向更轻、更强、更可靠的方向演进,对大型复杂构件的全域质量一致性提出了极致要求。在此背景下,精密测量技术已成为贯穿产品设计、研发、生产与服役全生命周期的“基石”与“眼睛”,是保障性能、提升良率、驱动创新的关键支撑。近年来,中国精密测量市场持续蓬勃发展,国产替代进程加速推进,国内测量机厂商凭借技术创新与品质提升,正展现出日益强劲的竞争力。为此,本届会议特设“国产精密测量仪器与技术发展”专场,旨在汇聚国内顶尖力量,共同探索高端测量装备的自主创新路径、关键技术与产业化实践,携手推动测量技术自主可控与产业生态的构建。

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精密测量.jpg

主办单位:仪器信息网

协办单位:中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所

会议日程

12月17日 精密测量技术在半导体领域的应用 我要参会
  • 09:30--10:00 纳米测量技术及其在半导体领域的应用 杨树明 西安交通大学 教授
  • 10:00--10:30 芯片封装缺陷检测技术及其应用 张滋黎 中国科学院微电子研究所 研究员
  • 10:30--11:00 定量相位成像技术及其在精密光学元件测量中的应用 于瀛洁 上海大学机电工程与自动化学院 院长/研究员
  • 11:00--11:30 深硅刻蚀微结构光学干涉测量方法研究与应用 霍树春 中国科学院微电子研究所 副研究员
12月17日 精密测量技术在航空航天领域的应用 我要参会
  • 14:00--14:30 调频激光干涉大尺寸测量技术及在航空航天领域的应用 刘柯 北京航天计量测试技术研究所 研究员
  • 14:30--15:00 点击观看 卡尔蔡司全维度质量引擎驱动两机动力叶片零缺陷未来 汤湖洋 卡尔蔡司(上海)管理有限公司 产品应用专家
  • 15:00--15:30 航天器总装过程中大尺寸精密测量技术及应用 隆昌宇 北京卫星环境工程研究所 高级工程师
  • 15:30--16:00 点击观看 mK级以下超精密测温关键技术与应用 杨宏兴 哈尔滨工业大学 教授
  • 16:00--16:30 航空大型部件协同测量方法与校准技术研究 赵子越 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所 副主任/高级工程师
12月18日 国产精密测量仪器与技术发展 我要参会
  • 09:30--10:00 面向高端测量装备的激光扫频干涉雷达技术 谈宜东 清华大学 精密仪器系 副系主任,教授
  • 10:00--10:30 点击观看 人形机器人直驱关节制造过程的超精密尺寸测量方案 杨飞田 深圳市中图仪器股份有限公司 高级产品总监
  • 10:30--11:00 点击观看 我国精密微纳计量技术发展——以台阶高度为例 施玉书 中国计量科学研究院 室主任/研究员
  • 11:00--11:30 点击观看 三维感知技术赋能智能制造 王俊亮 思看科技(杭州)股份有限公司 产品与支持中心高级总监
  • 11:30--12:00 计量级扫描白光干涉仪及应用 苏榕 中国科学院上海光学精密机械研究所 研究员

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