15718850776（微信同号）
第六届半导体材料与器件分析检测新技术网络研讨会
会议时间：2025年10月23日 09:00 -- 10月24日 18:00
| 票务类型 | 参会人数量 |
|---|---|
| 培训注册 ：500元 日期：6月9日前 |
-
+
|
大会注册【在读学生】：700元 日期：6月10日—11日 |
-
+
|
大会注册【非在读学生】：1500元 日期：6月10日—11日 |
-
+
|
你已报名该会议，请勿重复报名
会议时间：10月23日 09:00 -- 10月24日 18:00
半导体产业是支撑现代电子信息产业发展的核心基础，随着新一轮科技革命和产业变革深入，半导体材料与器件的分析检测技术愈发成为产业创新的关键环节。为促进我国半导体材料、器件及装备技术的自主创新与国产化替代，仪器信息网拟于2025年10月23-24日举办第六届半导体材料与器件分析检测新技术网络研讨会。
本届研讨会由仪器信息网主办，将聚焦四大核心专题：深度解析第三代半导体材料的结构与缺陷分析技术；创新设置材料成分与微污染控制专题，直击芯片制造过程中的质量控制痛点；深入探讨器件性能与可靠性评测的前沿方法；集中展示国产半导体检测仪器的技术突破与应用成果。
主办单位：仪器信息网
支持单位：电子工业出版社
分享有礼！
扫描二维码，点击“邀请有礼”生成专属海报，邀请 4 位用户报名，即可任选一本书籍《功率半导体封装技术》或《集成电路制造工艺》
添加微信（15718850776）领取，截至时间10月24日18:00
我要参会
高灵敏之眼：科学相机驱动国产半导体缺陷检测的精度革命
林静
福建鑫图光电有限公司 半导体业务总监
2D/3D半导体范德华异质集成及其双色光电探测
吴峰
华中科技大学 副研究员
我要参会
纳米红外技术及其在半导体工业领域的应用
魏琳琳
布鲁克（北京）科技有限公司 应用科学家
半导体材料与器件分析中未知有机物的质谱表征技术
王昊阳
中国科学院上海有机化学研究所 课题组长/高级工程师
氮化镓异质外延中的缺陷物理研究：从点缺陷到位错
杨涵
北京大学 博士后
我要参会我要参会
扫描探针显微技术在存储器领域的研究应用
魏家琦
致真精密仪器（青岛）有限公司 技术专家
金牌赞助
关注微服务 参会不迷路
下载app 回看更便捷
本次会议由中国水产科学研究院主办，若无法参会，请直接联系中国水产科学研究院
联系人：杨臻
联系电话：010-6867124 158 0116 9739
