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首届半导体材料与器件研究与应用网络会议(iCSMD 2020)

会议时间:2020年10月15日 09:00 -- 10月16日 18:00

票务类型 参会人数量
培训注册 :500元
日期:6月9日前
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大会注册【在读学生】:700元
日期:6月10日—11日
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大会注册【非在读学生】:1500元
日期:6月10日—11日
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会议时间:10月15日 09:00 -- 10月16日 18:00

大会介绍

为面对国际、国内新形势,国家密集出台各项政策、措施,推动中国半导体产业高质量发展。8月,国务院印发《新时期促进集成电路产业和软件产业高质量发展的若干政策》,明确提出鼓励半导体材料和装备产业。中国是全球第一大半导体市场、第二大半导体设备市场、第三大半导体材料市场。繁荣的市场和国家扶持政策,将促进半导体产业链转向国内, 进一步催生国内半导体行业实现自主可控的大潮,开启半导体材料国产化黄金期。中国半导体产业的发展,依赖于半导体材料(硅和先进半导体材料、特种气体、光刻胶、封装材料等)和半导体器件的研究和发展,同样也离不开仪器设备、分析检测方法和标准的支撑。中国科学院半导体研究所、仪器信息网拟于2020年10月15日-16日联合主办首届“半导体材料与器件研究与应用”网络会议(i Conference on Research and Application of Semiconductor Materials and Devices, iCSMD 2020)”,聚焦半导体材料与器件的产业热点方向,组织2天的专业学术交流。本次网络会议旨在利用互联网技术,为国内广大半导体材料与器件研究、应用及检测的相关工作者提供一个突破时间地域限制的免费学习平台,让大家足不出户便能聆听到相关专家的精彩报告。


主办单位:中国科学院半导体研究所 仪器信息网

会议日程

10月15日 半导体材料研发、应用及分析检测技术(上) 我要参会
  • 09:00--09:30 点击观看 钙钛矿纳米材料与SPP激光器 王智杰 中国科学院半导体研究所 研究员
  • 09:30--10:00 点击观看 赛默飞色谱质谱产品在半导体行业中的的应用 钟新林 赛默飞世尔科技 应用专家
  • 10:00--10:30 点击观看 PerkinElmer在半导体制程中的检测方案 华瑞 赛默飞 分子光谱产品经理
  • 10:30--11:00 半导体材料生产与工艺质量监控的先进技术进展 黄鹤 布鲁克(北京)科技有限公司 应用经理
  • 11:00--11:30 点击观看 梅特勒-托利多公司半导体行业检测方案 李玉琪
  • 11:30--12:00 点击观看 InP基光子集成材料与器件及标准代工平台 赵玲娟 中国科学院半导体研究所 研究员
  • 12:00--13:30 午休 中午休息 全体参会人员
  • 13:30--14:00 Si基GaN材料的MOCVD外延生长及杂质缺陷研究 杨学林 北京大学 正高级工程师
  • 14:00--14:30 点击观看 阴极发光成像技术的发展及其在表征半导体材料研究中的应用 Sangeetha Hari 荷兰Delmic公司 阴极发光应用专家
  • 14:30--15:00 点击观看 电子级水在半导体行业中的应用及解决方案 李子超 默克化工技术(上海)有限公司 高级应用专家
  • 15:00--15:30 点击观看 日立电子显微镜在半导体分析中的应用 周鸥 日立科学仪器(北京)有限公司 市场部副部长
  • 15:30--16:00 点击观看 半导体纳米材料原子尺度结构性能关系的透射电子显微学研究 李露颖 华中科技大学,武汉光电国家研究中心 教授
  • 16:00--16:30 点击观看 扫描探针技术在半导体材料及器件表界面分析中的应用 谢伟广 暨南大学 教授/实验中心主任
10月16日 半导体材料研发、应用及分析检测技术(下) 我要参会
  • 09:30--10:00 氧化镓基半导体器件研究进展 刘文军 复旦大学 青年研究员
  • 10:00--10:30 点击观看 高纯半导体材料的无机元素分析 应钰 安捷伦科技(中国)有限公司 原子光谱应用工程师
  • 10:30--11:00 点击观看 HORIBA Scientific多种分析技术在半导体材料表征中的应用 熊洪武 HORIBA科学仪器事业部 工业大客户经理
  • 11:00--11:30 半导体光电子外延材料国产化 罗帅 江苏华兴激光科技有限公司 总经理
10月16日 半导体器件研发、应用及分析检测技术 我要参会
  • 13:30--14:00 点击观看 双模微腔激光器及其应用 黄永箴 中国科学院半导体研究所 研究员
  • 14:00--14:30 点击观看 硅光通信与互连:一种变革性的技术 杨林 中国科学院半导体研究所 研究员
  • 14:30--15:00 半导体微纳加工中的硅干法刻蚀技术 王晓东 中国科学院半导体研究所 研究员
  • 15:00--15:30 点击观看 电子束曝光及相关技术的研究 韩立 中国科学院电工研究所 副所长/研究员
  • 15:30--16:00 半导体产业现状及相关检测技术进展 席善斌 国家半导体器件质量检验检测中心 副总经理/研究员
  • 16:00--16:30 点击观看 硅基III-V族光电器件及其缺陷的表征 樊士钊 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 项目研究员

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