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陈锴彬 工程师

工业和信息化部电子第五研究所

个人简介:本科和硕士毕业于华南理工大学,目前在工业和信息化电子第五研究所任职项目工程师,主要从事电子元器件可靠性环境与寿命试验的开展和研究工作。在可靠性环境与寿命试验领域:个人实操开展的试验项目上千项;参与了多项省部级课题的研究工作,发表学术论文7篇,其中6篇被SCI或EI收录;申请发明专利3项。支撑并解决了若干款新产品在鉴定检验时,在环境试验方面的匹配性问题。 查看更多

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