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高温反偏/栅偏试验(HTRB、 HTGB)

高温反偏/栅偏试验(HTRB、 HTGB)
  • 认证资质:
  • 检测价格:电议
  • 检测周期:3-7天
  • 检测类型:标准检测
  • 送样方式:不限

领域分类:半导体-半导体器件

检测项目:外延层级别,器件级别,电子元器件筛选,材料/衬底片级别

服务地点:全国

服务背景

高温下给样品加载反向偏置电压的应力,用以评估产品在电和温度作用下的持久能力。可为各种封装形式的二极管、三极管、场效应管、可控硅、桥堆和IGBT等半导体分立器件的高温反偏试验(HTRB)、高温栅偏试验(HTGB)、高温漏电流测试(HTIR)和老练筛选

检测内容

可用设备:整机可检测工位为16板×80位/板=1280位,温度范围:室温+10~200℃,电压范围:-60V~2000 V,电流分辨率为0.001 μA

检测标准
产品名称 检测标准 检测项目
JESD22-A108G:2022 JESD22-A108G:2022 JESD22-A108G:2022
我的优势

广东中科晟测控技术有限公司(简称:中科晟),创立于 2014 年,是一家专注于环境与可靠性检测设备及解决方案、环境与可靠性检测服务及集成电路测试服务提供商。

目前,中科晟在全国规划设立了8个检测实验室和办事处,分布于重庆、成都、东莞、深圳、广州、上海、无锡、西安等十余个城市,以确保为客户提供从试验设备需求到试验技术服务一体化的环境与可靠性试验服务解决方案。


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资质证书

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广东中科晟测控技术有限公司位于广东省东莞市,为您提供高温反偏/栅偏试验(HTRB、 HTGB),检测周期3-7天,检测价格电议,检测类型标准检测,送样方式不限,领域分类半导体-半导体器件。

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