车用多芯片模块可靠性测试

车用多芯片模块可靠性测试认证规范是AEC-Q104。

主要服务对象：汽车用传感器。

AEC-Q104规范中，共分为A-H八大系列。

主要测试项目：

A组 加速环境应力测试

高加速应力测试，温湿度测试、温度循环、高温储存寿命测试等。

B组 加速寿命模拟测试

高温工作寿命、早期寿命失效率等。

C组 封装组合完整性测试

剪切，拉力试验、可焊性、尺寸、x-ray、声学显微等。

D组 芯片晶元可靠度测试

电迁移、介质击穿、应力迁移等。

E组 电气特性确认测试

功能参数测试、静电放电、电分配、故障等级、电磁兼容、无铅等。

F组 缺陷筛选测试

过程平均测试、统计良率分析。

G组 空腔封装完整性测试

冲击，振动、跌落、扭力等。

H组 模组特殊要求

可靠性、跌落、x-ray、声学显微等。

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