车载集成电路应力测试

车用芯片最常见的应力测试规范是AEC-Q100，也是汽车电子系统中集成电路评价的通用标准。

AEC-Q100主要是针对车载应用的集成电路产品所设计出的一套应力测试标准，此规范对于提升产品信赖性品质保证相当重要。它是预防可能发生各种状况或潜在的故障状态，对每一个芯片进行严格的质量与可靠度确认，特别对产品功能与性能进行标准规范测试。

AEC-Q100主要是针对车载应用的集成电路产品所设计出的一套应力测试标准，此规范对于提升产品信赖性品质保证相当重要。它是预防可能发生各种状况或潜在的故障状态，对每一个芯片进行严格的质量与可靠度确认，特别对产品功能与性能进行标准规范测试。

测试项目包括：

A组 加速环境应力测试

预处理、高加速应力测试、温度循环测试、高温存储寿命测试等。

B组 加速寿命模拟测试

高温工作寿命测试、早期寿命失效率测试、耐久测试等。

C组 封装组合完整性测试

剪切测试、拉力、可焊性、尺寸等。

D组 芯片晶元可靠度测试

电迁移测试、介质击穿、应力迁移等。

E组 电气特性确认测试

功能参数测试、静电放电、电分配、故障等级、电磁兼容、无铅（Pb）等。

F组 缺陷筛选测试

统计良率测试等。

G组 腔体封装完整性测试

冲击、振动、跌落、扭力、剪切等。

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