AEC-Q104认证测试

AEC-Q104是AEC的第一个标准，AEC-Q104于1994年6月首次发表，现经过了十多年的发展，AEC-Q104已经成为汽车电子系统中集成电路评价的通用标准。对于车用芯片来说AEC-Q104也是最常见的应力测试(Stress Test)认证规范。

AEC-Q104认证主要针对车用多芯片模块可靠性测试，是AEC-Q系列家族成员中较新的汽车电子规范。

AEC-Q104上，为了依据MCM在汽车上实际使用环境，为复合式的环境，因此增加顺序试验，验证通过的难度变高。

测试项目：

A组 加速环境应力测试

B组 加速寿命模拟测试

C组 封装组合完整性测试

D组 芯片晶元可靠度测试

E组 电气特性确认测试

F组 缺陷筛选测试

G组 腔体封装完整性测试

H组 模组特殊要求

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