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镍片焊接不良失效分析

发布时间:2015-01-06 10:21:35

镍片焊接不良失效分析

美信检测失效分析实验室

摘要:

本文通过对已脱落的PCB(PAD)表面、脱落的镍片表面、未使用的PCB(PAD)、镍片未脱落的焊点进行表面SEM观察、焊点剖面分析、EDS分析等查找并分析形成镍脱落的原因。OK焊点中焊锡与镍片之间的IMC层发现较多孔洞、分层现象,且IMC层厚度不均匀,存在过厚和过薄现象,导致焊接强度降低,出现镍片易剥离现象。


1. 案例背景

客户反映,镍片通过回流焊接后,出现使用小于12N的力就可以从PCB焊盘上将镍片剥离现象,制造工艺要求镍片剥离强度要大于15N。

2.分析方法简述

A、样品外观照片:


B、OK焊点镍片的最大剥离力测试

表1.OK焊点镍片剥离最大力

经过测试,OK焊点的最大剥离力均大于15N。

 

C、确定了试验方案后我们针对失效样品做了如下分析:

1、NG焊盘表面、OK焊盘表面、PCB光板表面的SEM观察及EDS成分分析

2、NG焊点与OK焊点的切片分析

表2.OK焊点中焊锡与镍片IMC层厚度(um)

D、同批次未焊接镍片的可焊性验证

表3.同批次未焊接镍片的测试数据

 

3.结论

可能是由于镍片的润湿速度较快,回流焊的TOL时间过长,导致焊点IMC结构粗大、松散,且存在孔洞和分层现象,导致焊接强度偏低,严重的将导致镍片在小于12N的力下剥离,出现失效情况。

4. 参考标准

GJB 548B-2005 微电子器件失效分析程序-方法5003

GB/T16491-2008电子式万能试验机

IPC-TM-650 2.1.1-2004手动微切片法

GB/T 17359-2012微束分析能谱法定量分析

GB/T 27788-2011 微束分析扫描电镜图像放大倍率校准导则

J-STD-002C 元器件引线、端子、焊片、接线柱和导线的可焊性测试

作者简介:

MTT(美信检测)是一家从事材料及零部件品质检验、鉴定、认证及失效分析服务的第三方实验室,网址:www.mttlab.com,联系电话:400-850-4050

 转载请注明出处,如有商业用途请联系美信检测。

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