X射线光电子能谱用软X射线辐照样品表面，其X射线束流密度低且辐照面积大，通常被视为用于材料表面分析现有“束”技术中破坏性最小的技术之一。该技术的使用越来越广泛，建立一套准确信息检索的规则变得非常重要，而本标准则有助于满足这一需求。 在许多情况下，待进行成分分析的表面上会附着一层污染膜，这层膜通常是有机性质的。这层膜会对不同区域的谱图造成不同程度衰减，这取决于该区域发射电子的动能。因此，校正和消除这种影响对基材的表面成分分析是必要的。 标准所描述的程序能识别含碳污染物的存在、估算其厚度、并去除其对测定表面成分的影响。因而它是XPS全扫描谱的定量评估中数据规约的重要组成部分。这可在一个数据系统内实现自动化，同时将是为一些依赖表面分析的技术提供从全扫描谱中自动检索信息手段的必要的第一步。