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仪器信息网 3i讲堂 三英X射线CT半导体先进封装解决方案
[报告]三英X射线CT半导体先进封装解决方案
开始时间: 2026-09-22 09:30
主讲老师: 张宗 | 副总经理
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报告相关会议
第五届无损检测技术进展与应用网络研讨会
2026年09月22日 09:00 -- 09月23日 12:00
2026年9月22-23日,仪器信息网(www.instrument.com.cn)将举办“第五届无损检测技术进展与应用网络研讨会”。会议聚焦X射线CT、半导体检测、新能源电池检测、智能超声、AI赋能无损检测等前沿技术与应用热点,邀请业界知名无损检测专家、仪器技术专家、应用专家等线上分享精彩报告。近年来,半导体先进制程、新能源电池、航空航天等高端制造业迅猛发展,对无损检测技术提出了更高精度、更高效率、更高自动化的要求。X射线CT从离线走向在线、从定性走向计量,超声检测向智能化与阵列化演进,具身智能与机器人技术正在打开无损检测的新场景。基于此,第五届无损检测技术进展与应用网络研讨会将聚焦行业核心技术痛点,设置三大专场:专场一:X射线CT技术与应用(上)——半导体与先进封装检测;专场二:X射线CT技术与应用(下)——新能源、汽车与工业应用;专场三:无损检测新技术与跨界融合。诚邀业界人士线上报名参会。分享有礼!(需要邀请5位新用户,介意请勿参加)扫描下方二维码,点击“邀请榜”生成专属海报,邀请 5位新用户,即可任选一本书籍《X射线工业CT [意]西莫内 卡米尼亚托著》、《倒装芯片缺陷无损检测技术》或《无损检测技术》(三选一) 添加微信(15718850776)领取,截至时间9月23日12:00
报告介绍
报告介绍:
系统介绍面向不同应用场景的X射线CT解决方案:针对实验室高分辨率检测,重点介绍三英分辨率达100 nm级别的显微CT设备,支撑先进封装(如3D IC、TSV)的失效分析与工艺验证;针对功率模块封装中厚铜层、散热基板等高衰减材料带来的高穿透需求,介绍三英具备高穿透能力的X射线CT系统;面向工厂在线量产场景,介绍三英130 kV与180 kV等在线式CT产品。
主讲老师:
张宗
张宗,三英精密副总经理,2012年加入三英精密,负责X射线CT无损检测技术的产品开发与应用拓展,熟悉科研与工业的行业需求,一直致力于为用户提供最适合的产品解决方案。
参会说明:

一、报名贴士(敷衍填写将不予审核)

  • 1、请认真填写各项,您的手机号为您的参会凭证。

  • 2、报名后,参与直播可获取会后资料、加交流群。

二、参会方式(手机电脑均可参会)

  • 1、直播前一天,助教会统一审核。审核通过后,会发送参会链接给报名手机号。

  • 2、如无法正常参会,请拨打页面下方电话,帮您解决

三、会议资料(交流群,会后视频)

  • 1、报名并参与直播可与专家问答交流。会议群会在直播当天展示,会议ppt无法提供。

  • 2、关注【仪器信息网微服务】,微信提醒会议进度,便捷查阅近期会议及视频回放。

  • 3、下载【仪器信息网app】,获得会后回放视频、免费下载10万篇标准、获得实验室操作实战宝典等精品资料。

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