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仪器信息网 3i讲堂 日立SEM应用于金属材料的研发和质控
[报告]日立SEM应用于金属材料的研发和质控
开始时间: 2026-09-23 14:30
主讲老师: 管玉鑫 | 市场部经理
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报告相关会议
金属与高端制造:日立微观表征、成分速测与工艺闭环解决方案
2026年09月23日 14:00 -- 09月23日 18:00
随着航空航天、轨道交通、能源装备、海洋工程等领域对金属材料性能要求的持续提升,"微观表征、成分速测与工艺闭环"已成为行业突破的关键路径。从一颗螺丝的成分偏差到一整片涡轮叶片的微观缺陷,任何一个环节的疏漏都可能引发连锁失效。当前行业正面临一个共性挑战:表征手段碎片化、成分检测效率不足、工艺数据无法闭环——三者割裂,导致问题发现滞后、溯源困难、返工成本居高不下。为系统呈现整体解决方案,日立联合仪器信息网将于2026年9月23日(周三)14:00举办"金属与高端制造——微观表征、成分速测与工艺闭环解决方案"线上直播会,诚邀金属行业上下游的研发、检测、工艺与质量负责人参会交流。核心看点① 产学研双视角,从前沿研究到产线落地北京科技大学桂万元老师带来学术前沿报告,聚焦激光熔覆、增材制造与高温合金服役安全评价;日立工程师同步呈现工业级解决方案,打通"实验室→产线"的认知闭环。② 直击痛点:金属异物与缺陷的"显微级"精准溯源电子显微镜如何赋能金属异物与缺陷分析?日立电镜市场部经理管玉鑫将揭秘日立科学仪器技术在金属材料缺陷表征中的实战应用,助你建立从"看到缺陷"到"说清来源"的方法论。③ 应用案例:一颗螺丝如何毁掉一架飞机?日立分析仪器应用工程师陈翔以真实案例切入,聚焦金属品控的"最后一道防线",讲解日立分析仪器HHXRF、LIBS和OES三大光谱技术的特点——19年一线应用经验浓缩于一堂课。④ 全链条方案,一站式解答从微观形貌表征(电镜)→ 成分快速检测(直读/X射线荧光/激光光谱)→ 工艺数据闭环,日立将呈现覆盖"表征-检测-闭环"的完整技术矩阵,帮助研发、检测、工艺与质量负责人找到系统性解法。进群领取资料
报告介绍
报告介绍:
扫描电子显微镜(SEM)具备跨尺度微观观测能力, 贯穿金属材料研发与生产全流程的微观品质管控, 可覆盖从原子级晶格缺陷到毫米级宏观组织的多维度检测需求,能够完成组织形貌解析、失效缺陷排查、夹杂物定量分析、镀层参数测量、晶体结构表征等多项核心检测,适配多品类金属材料的质控场景,为高品质金属材料的性能升级与量产管控提供可靠的技术支撑。
主讲老师:
管玉鑫
电镜市场部经理,长期从事电子显微镜及与之关联的表征技术的研究推广、应用和研发的工作。尤其专注于电镜表征技术在材料科学领域方面的研究工作。
参会说明:

一、报名贴士(敷衍填写将不予审核)

  • 1、请认真填写各项,您的手机号为您的参会凭证。

  • 2、报名后,参与直播可获取会后资料、加交流群。

二、参会方式(手机电脑均可参会)

  • 1、直播前一天,助教会统一审核。审核通过后,会发送参会链接给报名手机号。

  • 2、如无法正常参会,请拨打页面下方电话,帮您解决

三、会议资料(交流群,会后视频)

  • 1、报名并参与直播可与专家问答交流。会议群会在直播当天展示,会议ppt无法提供。

  • 2、关注【仪器信息网微服务】,微信提醒会议进度,便捷查阅近期会议及视频回放。

  • 3、下载【仪器信息网app】,获得会后回放视频、免费下载10万篇标准、获得实验室操作实战宝典等精品资料。

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