2026年07月22日 09:00 -- 07月23日 12:00
X射线衍射技术(X-ray Diffraction Analysis,XRD)基于X射线在晶体物质中的衍射效应,遵循布拉格方程,可对物相组成、晶粒尺寸及形貌等进行定性与定量分析,在材料科学、化学、物理、地学及工程领域发挥着不可替代的重要作用。近年来,随着原位分析、微区探测以及人工智能辅助数据分析等技术的持续突破,XRD的应用场景不断拓展。2026年7月22日至23日,仪器信息网将举办第七届X射线衍射技术及应用进展网络研讨会。会议将汇聚业内知名专家学者与企业代表,共同探讨XRD技术的最新进展,重点关注AI赋能XRD数据分析、新技术与新方法开发,并深度分享XRD在材料领域中的典型落地案例,助力产学研用的协同创新与融合发展。分享有礼!扫描下方二维码,点击“邀请榜”生成专属海报,邀请 3 人以上,即可任选一本书籍《X射线衍射理论与实践(Ⅰ)(黄继武)》、《X射线衍射理论与实践(Ⅱ)(黄继武)》、《X射线粉末衍射技术(王春建著)》