2026年07月22日 09:00 -- 07月23日 12:00
X射线衍射技术（X-ray Diffraction Analysis，XRD）基于X射线在晶体物质中的衍射效应，遵循布拉格方程，可对物相组成、晶粒尺寸及形貌等进行定性与定量分析，在材料科学、化学、物理、地学及工程领域发挥着不可替代的重要作用。近年来，随着原位分析、微区探测以及人工智能辅助数据分析等技术的持续突破，XRD的应用场景不断拓展。2026年7月22日至23日，仪器信息网将举办第七届X射线衍射技术及应用进展网络研讨会。会议将汇聚业内知名专家学者与企业代表，共同探讨XRD技术的最新进展，重点关注AI赋能XRD数据分析、新技术与新方法开发，并深度分享XRD在材料领域中的典型落地案例，助力产学研用的协同创新与融合发展。分享有礼！扫描下方二维码，点击“邀请榜”生成专属海报，邀请 3 人以上，即可任选一本书籍《X射线衍射理论与实践（Ⅰ）（黄继武）》、《X射线衍射理论与实践（Ⅱ）（黄继武）》、《X射线粉末衍射技术（王春建著）》
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