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仪器信息网 3i讲堂 Neoscan 显微 CT 在无损检测方面的应用
[报告]Neoscan 显微 CT 在无损检测方面的应用
开始时间: 2026-09-22 14:30
主讲老师: 马黎明 | 产品经理
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报告相关会议
第五届无损检测技术进展与应用网络研讨会
2026年09月22日 09:00 -- 09月23日 12:00
2026年9月22-23日,仪器信息网(www.instrument.com.cn)将举办“第五届无损检测技术进展与应用网络研讨会”。会议聚焦X射线CT、半导体检测、新能源电池检测、智能超声、AI赋能无损检测等前沿技术与应用热点,邀请业界知名无损检测专家、仪器技术专家、应用专家等线上分享精彩报告。近年来,半导体先进制程、新能源电池、航空航天等高端制造业迅猛发展,对无损检测技术提出了更高精度、更高效率、更高自动化的要求。X射线CT从离线走向在线、从定性走向计量,超声检测向智能化与阵列化演进,具身智能与机器人技术正在打开无损检测的新场景。基于此,第五届无损检测技术进展与应用网络研讨会将聚焦行业核心技术痛点,设置三大专场:专场一:X射线CT技术与应用(上)——半导体与先进封装检测;专场二:X射线CT技术与应用(下)——新能源、汽车与工业应用;专场三:无损检测新技术与跨界融合。诚邀业界人士线上报名参会。分享有礼!(需要邀请5位新用户,介意请勿参加)扫描下方二维码,点击“邀请榜”生成专属海报,邀请 5位新用户,即可任选一本书籍《X射线工业CT [意]西莫内 卡米尼亚托著》、《倒装芯片缺陷无损检测技术》或《无损检测技术》(三选一) 添加微信(15718850776)领取,截至时间9月23日12:00
报告介绍
报告介绍:
Neoscan 系列高分辨显微 CT 作为先进的 X 射线三维无损成像检测设备,依托微米乃至纳米级高精度扫描成像技术,突破了传统切片、光学观测等检测手段需破坏样本、仅能获取二维结构的局限,可在不损伤被测样品结构与性能的前提下,实现样品内部微观结构、缺陷形态、尺寸参数的全方位三维可视化表征与精准量化分析,是当前精密无损检测领域的核心技术手段之一。该设备适配多尺度、多类型样品检测需求,覆盖小尺寸精密构件至大尺寸高密度样品,具备成像清晰度高、伪影少、检测精度稳定的技术优势,有效弥补了传统无损检测技术在微观缺陷识别、三维结构量化检测上的短板。目前,Neoscan 显微 CT 已广泛应用于工业制造、新能源、生物医药、农业科研、新材料研发等多个领域,可精准检测金属铸件、3D 打印构件、复合材料的内部孔隙、裂纹、分层等隐性缺陷,可视化分析锂电池电芯、电极层微观结构,量化骨科植入物、生物组织的形态参数,同时可完成农作物种子、果荚的内部结构筛查与药品固体制剂孔隙率、成分分布检测,为产品质量质控、材料性能优化、科研机理研究、工艺改进提供了精准、可靠的无损数据支撑,大幅提升了精密样品无损检测的效率与精准度,具备极高的科研价值与工业应用推广价值。
主讲老师:
马黎明
马黎明,高级工程师,复纳科学仪器 (上海) 有限公司显微 CT 事业部产品经理。2013 年至今深耕显微 CT 领域,长期专注显微 CT 核心技术研究、多学科应用开发与行业市场推广工作。兼具生命科学科研背景与高端成像设备产业化经验,以标准化实验方法研究成果在 JoVE 期刊发表论文,拥有国家发明专利、实用新型专利各一项,持续推动显微 CT 在农业、生物、材料、古生物等领域无损三维表征技术落地。
参会说明:

一、报名贴士(敷衍填写将不予审核)

  • 1、请认真填写各项,您的手机号为您的参会凭证。

  • 2、报名后,参与直播可获取会后资料、加交流群。

二、参会方式(手机电脑均可参会)

  • 1、直播前一天,助教会统一审核。审核通过后,会发送参会链接给报名手机号。

  • 2、如无法正常参会,请拨打页面下方电话,帮您解决

三、会议资料(交流群,会后视频)

  • 1、报名并参与直播可与专家问答交流。会议群会在直播当天展示,会议ppt无法提供。

  • 2、关注【仪器信息网微服务】,微信提醒会议进度,便捷查阅近期会议及视频回放。

  • 3、下载【仪器信息网app】,获得会后回放视频、免费下载10万篇标准、获得实验室操作实战宝典等精品资料。

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