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仪器信息网 3i讲堂 扫描探针显微技术在存储器领域的研究应用
[报告]扫描探针显微技术在存储器领域的研究应用
开始时间: 2025-10-24 15:30
主讲老师: 魏家琦 | 技术专家
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报告相关会议
第六届半导体材料与器件分析检测新技术网络研讨会
2025年10月23日 09:00 -- 10月24日 18:00
半导体产业是支撑现代电子信息产业发展的核心基础,随着新一轮科技革命和产业变革深入,半导体材料与器件的分析检测技术愈发成为产业创新的关键环节。为促进我国半导体材料、器件及装备技术的自主创新与国产化替代,仪器信息网拟于2025年10月23-24日举办第六届半导体材料与器件分析检测新技术网络研讨会。本届研讨会由仪器信息网主办,将聚焦四大核心专题:深度解析第三代半导体材料的结构与缺陷分析技术;创新设置材料成分与微污染控制专题,直击芯片制造过程中的质量控制痛点;深入探讨器件性能与可靠性评测的前沿方法;集中展示国产半导体检测仪器的技术突破与应用成果。主办单位:仪器信息网支持单位:电子工业出版社分享有礼!扫描二维码,点击“邀请有礼”生成专属海报,邀请 4 位用户报名,即可任选一本书籍《功率半导体封装技术》或《集成电路制造工艺》添加微信(15718850776)领取,截至时间10月24日18:00
报告介绍
报告介绍:
扫描探针显微技术是存储器领域精准表征的核心工具,其基础原子力显微镜(AFM)可拓展磁力显微镜(MFM)、导电原子力显微镜(C-AFM)、扫描电容显微镜(SCM)、压电力显微镜(PFM)等模式。基于该技术的延伸开发,报告还将介绍纳米多探针设备包括其探针间距控制算法与电学短脉冲测量能力,及其在 SRAM 等存储器性能表征、缺陷分析中的具体应用。
主讲老师:
魏家琦
魏家琦,致真精密仪器(青岛)有限公司技术专家,获北京航空航天大学和法国洛林大学双博士学位,入选泰山学者青年专家(2025)。主要研究方向为集成电路先进工艺检测技术开发、集成电路精密量测设备开发、大容量磁存储器设计等,主持国家自然科学基金青年项目、中关村概念验证项目、中关村“揭榜挂帅”专项等项目5项;以第一或通讯作者共发表SCI学术论文15篇,累计申请/授权专利23件。带领项目团队自主研发科研级与晶圆级原子力显微镜,获得北京大学、哈尔滨工业大学、厦门大学等国内知名研究机构订单。
参会说明:

一、报名贴士(敷衍填写将不予审核)

  • 1、请认真填写各项,您的手机号为您的参会凭证。

  • 2、报名后,参与直播可获取会后资料、加交流群。

二、参会方式(手机电脑均可参会)

  • 1、直播前一天,助教会统一审核。审核通过后,会发送参会链接给报名手机号。

  • 2、如无法正常参会,请拨打页面下方电话,帮您解决

三、会议资料(交流群,会后视频)

  • 1、报名并参与直播可与专家问答交流。会议群会在直播当天展示,会议ppt无法提供。

  • 2、关注【仪器信息网微服务】,微信提醒会议进度,便捷查阅近期会议及视频回放。

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