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仪器信息网 3i讲堂 表面分析技术前沿进展及多领域联合应用探索
[报告]表面分析技术前沿进展及多领域联合应用探索
开始时间: 2025-06-04 14:30
主讲老师: 冯林 | 应用科学家
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报告相关会议
第十二届表面分析技术应用论坛暨表面化学分析国家标准宣贯会网络研讨会
2025年06月04日 09:00 -- 06月05日 18:00
2025 年全国两会及政府工作报告中,多次强调 “标准制定” 的重要性,提出加强标准引领与质量支撑、实施标准提升行动、构建高质量发展标准体系等关键举措,凸显标准对产业升级、市场规范及民生保障的战略意义。在此背景下,表面分析技术领域的标准化建设成为推动行业高质量发展的关键引擎。而 “AI+Science” 的融合创新,更为表面分析技术的突破与标准体系的完善带来全新机遇与挑战。为积极响应两会号召,落实国家政策导向,由国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心、全国表面化学分析标准化技术委员会、中国分析测试协会高校分析测试分会、北京理化分析测试学会表面分析专业委员会及仪器信息网(北京信立方科技发展股份有限公司旗下网站)联合举办的 “第十二届表面分析技术应用论坛暨表面化学分析国家标准宣贯会”,将于 2025 年 6 月 4 - 5 日以线上形式召开,本届会议以 “AI+Science” 为主题,聚焦前沿技术与创新融合。会议将汇聚行业权威专家,围绕 AI 赋能表面分析技术的前沿理论、应用实践,旨在借助 AI 技术提升表面分析技术理论与实践水平,加速表面化学分析国家标准的宣贯落地,培育壮大表面分析科学研究队伍,完善表面分析技术标准体系,推动 “AI+Science” 在表面分析领域的深度融合与创新发展。分享有礼!分享此会议链接至朋友圈或相关群,邀请6人及以上,即可获得《表面分析技术》或《表面分析》纸质书1本添加微信(15718850776)领取,截至时间6月5日18:00支持单位:中国分析测试协会、蔻享学术、科研云、邃瞳科学云
报告介绍
报告介绍:
表面分析技术已被广泛应用于诸多科学研究以及高科技产业中。本报告将从空间分辨、深度分辨和原位表征多个维度出发,介绍表面分析技术(XPS、AES和TOF-SIMS等)的最新进展以及在多学科领域中的综合应用,包括研究材料表面微区特征组分和化学态的空间分布;研究膜层组分的深度分布;对材料进行原位测试芯能级、价带和导带电子结构等。
主讲老师:
冯林
冯林博士,爱发科费恩斯(南京)仪器有限公司应用科学家。于2020年在中国科学技术大学国家同步辐射实验室获得博士学位,研究方向为利用X射线光电子能谱(XPS)和扫描隧道显微镜(STM)等表面分析技术探索低维碳纳米材料表面生长机制。于2022年加入爱发科费恩斯(南京)仪器有限公司,在PHI南京表面分析实验室负责表面分析测试,以及XPS分析技术应用培训,在XPS、UPS(紫外光电子能谱)、AES(俄歇电子能谱)、TOF-SIMS(飞行时间二次离子质谱)等多种表面分析技术的应用方面拥有丰富的经验。
参会说明:

一、报名贴士(敷衍填写将不予审核)

  • 1、请认真填写各项,您的手机号为您的参会凭证。

  • 2、报名后,参与直播可获取会后资料、加交流群。

二、参会方式(手机电脑均可参会)

  • 1、直播前一天,助教会统一审核。审核通过后,会发送参会链接给报名手机号。

  • 2、如无法正常参会,请拨打页面下方电话,帮您解决

三、会议资料(交流群,会后视频)

  • 1、报名并参与直播可与专家问答交流。会议群会在直播当天展示,会议ppt无法提供。

  • 2、关注【仪器信息网微服务】,微信提醒会议进度,便捷查阅近期会议及视频回放。

  • 3、下载【仪器信息网app】,获得会后回放视频、免费下载10万篇标准、获得实验室操作实战宝典等精品资料。

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