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仪器信息网 3i讲堂 高分辨CT和高速CT在电子制造领域的应用
[报告]高分辨CT和高速CT在电子制造领域的应用
开始时间: 2022-04-28 14:00
主讲老师: 李策 | 应用工程师
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报告相关会议
半导体封装检测技术与应用 主题网络研讨会
2022年04月28日 09:30 -- 04月28日 18:00
半导体封装是半导体产业链的重要组成部分。半导体制造工艺的进步也在推动封装企业不断追求技术革新,持续加大研发投资。在半导体产业强势发展下,半导体行业对半导体封装设备的质量、技术参数、稳定性等有严苛的要求,因此其中涉及的检测技术至关重要。基于此,仪器信息网将于2022年4月28日举办”半导体封装检测技术与应用“主题网络研讨会,邀请业内专家进行精彩报告分享,旨在为广大半导体封装行业用户、检测人员和相关学者提供一个线上近距离交流平台。
报告介绍
报告介绍:
报告详细介绍了三维X射线 CT检测的成像原理,通过实际案例说明了CT应用于电子制造领域尤其是半导体封装领域的必要性、高效性与实用性,并展示了三英精密开发制造的国产高端设备—— X射线CT检测系统,具备独特的技术优势和产品优势。
主讲老师:
李策
李策,毕业于天津大学过程装备与控制工程专业,现就职于天津三英精密仪器股份有限公司市场拓展部,任应用工程师一职。主要负责X射线三维CT成像技术的应用拓展,熟悉CT技术在电子制造、锂电池、新材料、航空航天、岩土、地质、动植物、3D打印等领域的应用,拥有丰富的经验和应用案例,了解X射线三维CT成像技术在各行业应用研究中的技术需求。
参会说明:

一、报名贴士(敷衍填写将不予审核)

  • 1、请认真填写各项,您的手机号为您的参会凭证。

  • 2、报名后,参与直播可获取会后资料、加交流群。

二、参会方式(手机电脑均可参会)

  • 1、直播前一天,助教会统一审核。审核通过后,会发送参会链接给报名手机号。

  • 2、如无法正常参会,请拨打页面下方电话,帮您解决

三、会议资料(交流群,会后视频)

  • 1、报名并参与直播可与专家问答交流。会议群会在直播当天展示,会议ppt无法提供。

  • 2、关注【仪器信息网微服务】,微信提醒会议进度,便捷查阅近期会议及视频回放。

  • 3、下载【仪器信息网app】,获得会后回放视频、免费下载10万篇标准、获得实验室操作实战宝典等精品资料。

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