光学仪器网络会议_行业专业知识-仪器信息网3i讲堂

高压冷冻、冷冻替代与冷冻切片技术

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2017年09月22日 14:00

低温制样技术是近年兴起的生物电镜制样技术，它可以更加真实有效的保存生物体内结构，捕捉某些生理变化，与传统化学制样手段相比较，可以获得更丰富真实的生物体超微结构。低温制样技术包括高压冷冻、冷冻替代、冷冻切片等多种，讲座将围绕几种方法介绍原理、技术、实验仪器以及具体的实验技巧。

针对流体材料样品的冷冻断裂及真空冷冻传输等Cryo-SEM制样技术

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2017年09月15日 10:00

冷冻扫描电镜近年来迅猛发展，成为原位快速观察样品的不二选择。配合徕卡全套低温电镜制样产品线，可实现从制样到观察整个过程在冷冻状态下进行，从而可观察液体、半液体、生命材料及对电子束敏感的样品（如溶胶、高分子材料等）。本次讲座主要介绍利用徕卡最新高压冷冻仪ICE实现流体材料的快速无损固定，及冷冻断裂仪ACE900对冷冻后样品进行断裂、刻蚀、镀膜，暴露其内部信息，并配合冷冻真空传输系统VCT500及SEM冷台，实现流体样品的低温直接观察。

蔡司全新双束FIB-SEM：高通量纳米加工与3D分析平台

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2017年09月08日 10:00

本次研讨会将会介绍蔡司最新发布的双束FIB-SEM系统，Crossbeam 550以及其在材料科学领域的应用。通过全新设计的Capella+离子镜筒，结合蔡司专利的Gemini电子镜筒，使其在高分辨成像，制样，高通量微纳加工以及3D重构等应用上具有极大的优势。结合Crossbeam 550 的FIB的加工能力和SEM的成像能力，讲座将会详细介绍其在材料，半导体，纳米材料，甚至生物等各个领域的应用。

视频级原子力显微镜的技术及新应用

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2017年08月16日 10:00

原子力显微镜（AFM）可以在纳米尺度研究材料的结构、力学、和电学等性质。传统的AFM扫描速度较慢，成像需要数分钟。约十年前，快速扫描AFM的出现使我们能够以十秒左右的时间分辨率观察动态过程。而近年来，视频级扫描AFM将速度再次提升了一个数量级，成像时间缩短到了一秒以下。此次网络讲座会介绍由视频级扫描AFM得到的一些结果，包括胶原蛋白纤维的自组装，DNA的酶切割，以及表面活性剂胶束在石墨表面的迁移。同时，我们会简单介绍第一台全功能视频级扫描AFM – Cypher VRS的设计原理。期待您的参与！

EM RES102制备TEM离子减薄样品应用技巧及应用实例

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2017年07月20日 10:00

离子减薄技术是一种常见的透射电镜制样技术，其原理是利用高能氩离子轰击Ø3mm样品，获得纳米级薄区供后续TEM观察使用。这一方法在金属材料以及无机非金属材料科学领域都有着非常广泛的应用。但众所周知，离子减薄也是一个技巧性很高的技术：样品的前处理、离子枪加速电压、电流、离子入射角度的选择等等，都对实验成功与否起着至关重要的作用。本次讲座，以Leica EM RES102型离子减薄仪仪器载体，展示不同样品的实验结果，并详细介绍所涉及的实验技巧，让听众得以充分了解离子减薄的应用范围，同时也能够学习到相应制样技巧。

利用氩离子研磨技术制备完美EBSD样品

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2017年06月30日 14:00

微电子材料样品在做失效分析扫描电镜图像拍摄之前，需要准确研磨到目标位置，尽可能的避免样品研磨面的应力损伤和污染，以便获得清晰的样品断面形貌，或进行元素定性定量分析等。本次讲座介绍如何机械研磨、离子束切割抛光方式和超薄切片方式制备扫描电镜样品。徕卡精研一体机TXP可以对样品进行精确定位研磨，高效率的处理以往难以制备的样品。徕卡三离子束切割抛光仪TIC3X可对样品进行无应力损伤和无磨料污染的氩离子束切割抛光，确保样品适合高倍率扫描电镜图像观察，或这EBS和EBSD分析。徕卡超薄切片机UC7是利用钻石刀对样品进行精细准确切割，非常适合于铜、铝和高分子膜层的截面制备。

第三届电镜网络会议（iCEM 2017）

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2017年06月21日 09:00 -- 06月23日 16:00

电镜网络会议（iConference on Electron Microscopy,iCEM）由仪器信息网于2015年在业内首次发起，旨在利用互联网技术为国内的广大电子显微学工作者提供一个突破时间地域限制的免费学习平台，让大家足不出户便能聆听到电子显微学专家的精彩报告，节省时间和资金成本。　电镜网络会议的想法提出后，得到了许多业内专家学者的指导和支持，大家希望能通过网络平台让越来越多的电镜用户更好的掌握电子显微学技术、推动我国电子显微技术的应用发展。　 2017年6月21日-23日，仪器信息网将组织举办第三届电镜网络会议(iCEM 2017)，并围绕广大用户感兴趣的技术领域组织报告，涉及原位电子显微学技术、高分辨电子显微学技术、材料样品制备技术、EDS/EBSD技术、扫描电镜应用及维护、生物电镜样品制备技术、冷冻电子显微学技术等领域。

峰值力扫描电化学显微镜（PFSECM）

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2017年06月19日 10:00

在去年年底，Bruker发布了峰值力扫描电化学显微镜（PFSECM）。该技术首次将传统的扫描电化学显微镜（SECM）与Bruker专利的峰值力轻敲原子力显微镜（PeakForce Tapping AFM），并突破了纳米电极制造的难题，解决了传统的SECM控制不精确以及分辨率低等难题，实现了在电解质溶液中对表面的形貌、电化学活性、导电性、模量、粘附力、形变量以及能量损失等等诸多物理特性的同时测量。本次讲座的内容主要包括： 1．介绍PFSECM的基本原理； 2. 介绍PFSECM的硬件软件； 3. 介绍PFSECM的基本应用，包括测量电化学活性以及液下的电学测量。

微电子行业SEM样品制备方法及应用实例

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2017年06月01日 14:00

微电子材料样品在做失效分析扫描电镜图像拍摄之前，需要准确研磨到目标位置，尽可能的避免样品研磨面的应力损伤和污染，以便获得清晰的样品断面形貌，或进行元素定性定量分析等。本次讲座介绍如何机械研磨、离子束切割抛光方式和超薄切片方式制备扫描电镜样品。徕卡精研一体机TXP可以对样品进行精确定位研磨，高效率的处理以往难以制备的样品。徕卡三离子束切割抛光仪TIC3X可对样品进行无应力损伤和无磨料污染的氩离子束切割抛光，确保样品适合高倍率扫描电镜图像观察，或这EBS和EBSD分析。徕卡超薄切片机UC7是利用钻石刀对样品进行精细准确切割，非常适合于铜、铝和高分子膜层的截面制备。本次讲座，以Leica EM RES102型离子减薄仪仪器载体，展示不同样品的实验结果，并详细介绍所涉及的实验技巧，让听众得以充分了解离子减薄的应用范围，同时也能够学习到相应制样技巧。

AFM的力学测量技术

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2017年05月19日 10:00

原子力显微镜（AFM）能够在纳米尺度上实现探针与样品间作用力的精确控制，同时通过结合其他电磁学测量技术如TUNA和KPFM等，极大地开拓了AFM力学测量技术的应用前景。在材料力学与电磁学表征、细胞病例分析、表面修饰、纳米压痕等得到广泛的关注。本次讲座我们将重点介绍采用Bruker AFM最新的力学测量技术以及应用。本次讲座的内容主要包括： 1．介绍AFM纳米力学测量的基本原理 2. 介绍Bruker AFM中的各类力学新技术及其应用。

电子显微成分分析中的若干问题与解决方法

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2014年07月16日 10:00

将电子显微成分分析中遇到的关键问题进行分析，剖析问题的来源，然后针对主要问题，提供ThermoFisher的解决方法，为用户提供应用分析的建议。

扫描电镜的前处理应用介绍-----教你如何制备扫描电镜样品

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2013年12月17日 14:30

扫描电镜的前处理相对透射电镜来说是比较简单的,但是针对不同材料的样品,也有一些技巧和特殊的制备方法.本讲座从最基本的制样方法开始,教大家如何准备扫描电镜样品,并深入介绍了最新的制样设备---离子研磨,和大家一起探讨扫描电镜的前期技巧.

2013年布鲁克原子力显微镜测量技术系列第五讲-SPM在材料电学性能表征方面的应用进展

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2013年07月09日 10:00

基于扫描探针显微镜的电学表征技术 1. Interleave扫描及抬起模式简介 2. 静电力显微镜，静电力与PFQNM联用 3. 表面电势测量，PFKPFM 4. 导电原子力，PFTUNA及扫描电容显微镜上世纪九十年代以后，基于SPM的表征材料表面电学性质的技术得到了极大的发展。其主要手段有静电力显微镜，开尔文探针显微镜、导电原子力显微镜、隧穿原子力显微镜以及扫描电容显微镜等等。其应用领域包括纳米材料，纳米器件，生命科学，半导体器件，数据存储等领域。近年来，随着基于峰值力技术研发出一系列新的成像模式，使得纳米材料电学性能表征更定量、更准确。此报告将逐一介绍以上电学测量技术，还将展示电学性质测量与定量力学测量的结合，以及新的频率调制的开尔文探针显微镜。

2013年布鲁克原子力显微镜测量技术系列第四讲-利用AFM-Raman集成成像系统进行材料性能表征

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2013年06月25日 10:00

2013年原子力显微镜测量技术系列讲座第四讲——利用AFM-Raman集成成像系统进行材料性能表征报告摘要：原子力显微镜至今已经有了三十余年的历史，随着原子力显微镜技术的发展和研究的深入，人们已不仅限于利用原子力显微镜进行表面形貌的表征。布鲁克公司始终致力于原子力显微镜最新技术的应用和研发。可以实现针尖增强拉曼（TERS）的AFM-Raman联用成像体系，获得真正纳米级别的光谱解析，具有最好的针尖保护体系和最低的漂移率。利用拉曼成像技术获得样品的化学或者晶体学构象和光谱信息；同时可与AFM技术完美结合，获得其纳米尺度上的机械性质，电学性质和热力学性质等测量结果。报告内容 1. AFM-Raman联用成像体系的工作原理 2. AFM-Raman联用成像技术的发展历程 3. 针尖增强拉曼（TERS）的技术细节和技术难点 4. AFM-Raman联用成像技术的应用实例

原子力显微镜在高分辨定量测量材料特性方面的应用进展-2013年布鲁克原子力显微镜测量技术系列讲座第三讲

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2013年05月21日 10:00

2013年布鲁克原子力显微镜测量技术系列讲座第三讲——原子力显微镜在高分辨定量测量材料特性方面的应用进展原子力显微镜至今已经有了三十余年的历史，随着原子力显微镜技术的发展和研究的深入，人们已不仅限于利用原子力显微镜进行表面形貌的表征。布鲁克公司始终致力于原子力显微镜最新技术的应用和研发。峰值力轻敲模式（PeakForce Tapping）技术是布鲁克公司最新的专利技术，利用此成像技术，人们可以在高分辨AFM成像的同时，获得材料表面的力学信息（模量、粘附性质、形变等）和材料的电学性质。本期报告主要内容： 1. 峰值力轻敲模式的基本原理及应用实例 2. 定量纳米力学测量原理及应用 3. 定量纳米电学测量原理及应用 4.有机光伏材料的定量高分辨研究

电子显微镜的日常维护

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2013年04月23日 14:30

日立高新的电子显微镜系列网络讲堂，已经作了很多期了，根据广大用户的反馈，本次讲座将针对扫描电镜的日常维护，保养等方面进行全方位的介绍。如果大家对日常维护和保养有什么困惑和疑问，那么请来参加我们的网络讲堂吧。

原子力显微镜在生物学研究中的应用——2013年布鲁克原子力显微镜测量技术系列讲座第二讲

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2013年04月16日 10:00

随着生物学研究逐渐从宏观进入微观水平，高分辨率显微技术的应用越来越广泛。相比于其他显微镜技术（如电镜、激光共聚焦等），原子力显微镜能够在气相、液相、真空、高/低温等多种环境条件下工作，并且制样简单，操作方便，已经成为纳米/微米生物学领域最重要的研究工具。本报告是布鲁克公司2013年原子力显微镜测量技术系列讲座之一，主要内容包括布鲁克公司原子力显微镜技术在生物学研究领域中的广泛应用及最新研究进展，如何利用原子力显微镜快速获取生物样品的高分辨图像。抛砖引玉，希望能够对大家的科研工作有所助益。报告主要包括： 1. 原子力显微镜测试技术的特点和优势 2. 生命学研究发展趋势 3. 原子力显微镜在生物学研究中的应用 4. 生物型原子力显微镜最新进展

原子力显微镜简介及成像技巧——2013年布鲁克原子力显微镜测量技术系列讲座第一讲

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2013年03月28日 10:00

现代科学技术中，观察、测量、分析以及操纵纳米大小的物体是一个热门的研究领域。原子力显微镜的诞生为研究者们提供了分析和操作纳米世界的“眼”和“手”。因此，自诞生以来AFM已经被广泛用于科研和工业界各领域，涵盖了聚合物材料表征，集成光路测量，材料力学性能表征，细胞表面形态观察，生物大分子的结构及性质，生物传感器，分子自组装结构等领域的监测等各类科研和生产工作。本报告作为2013年布鲁克原子力显微镜测量技术系列讲座的第一讲，主要讲解AFM的基本原理及成像模式，重点介绍成像参数调节的基本技巧，以及图像处理和分析的基本方法；让用户更好的了解AFM发展的进展及其应用，帮助AFM用户掌握获得高品质图像，获取实验数据的技巧；进一步为用户将来更深入的研究打下良好的基础。

三维光学显微镜在动态MEMS表面测量中的应用——2013年布鲁克光学显微镜技术研讨会第一讲

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2013年03月26日 10:00

据报道，MEMS（微机电系统）设备市场于2012年达到500万美元，而MEMS和传感器市场在2016年将达到196亿美元。传统上稳定使用的无线电电路，机械式陀螺仪到模拟传感器，都有可能被成本更低，体积更小，重量更轻而性能更优越和可靠的MEMS器件所取代。这其中，封装和测试成本的比例可能高达60%。本讲座将着重介绍布鲁克三维光学显微镜在动态MEMS器件表面测量中的应用。从设计到中试，批量生产直至后期可靠性测试等不同阶段，布鲁克三维光学显微镜在整个制备过程中始终扮演重要角色。经特殊设计的频闪光源可以实现在MEMS器件以不同频率运动时对其表面进行实时测量，从而表征整个运动周期内该器件表面的面内或面外的运动状态。讲座将通过几个具有代表性的实测器件的动态测量案例，讨论测量的要点和动态MEMS器件工作状态的真实表征。