2016年10月25日 09:00
近年来,随着电子显微技术的发展,以及国家对于基础科研投入的加大,我国从事电子显微学技术研究及应用的人员队伍越来越大。而电子显微镜作为大型仪器,是难度和精细程度最高的仪器技术之一。
2015年6月,仪器信息网利用网络平台组织举办了业内首届电镜网络会议(iCEM)。第一届电镜网络会议推出后,受到了与会用户的热烈欢迎,大家对于专家们的精彩报告表示感谢,并希望能够有机会聆听更多专家的报告。
2016年10月25日-26日,仪器信息网计划组织举办第二届电镜网络会议,根据用户关注的热点技术领域组织了会议内容,主要包括:像差校正电镜技术原理与应用、低电压扫描电镜技术在材料研究中的应用、聚焦离子束(FIB)技术在微纳米材料研究中的应用、透射电镜低温样品制备技术、高压快速冷冻电镜固定技术及在生命科学中的应用、单颗粒冷冻电镜技术进展及应用、生物冷冻电镜大数据中的高效处理方法等。
本专场为“扫描电子显微学技术在材料科学领域的应用”专场, 会议专家报告日程如下:
1、低电压扫描电镜技术在材料研究中的应用
报告人:曾毅(中科院上海硅酸盐研究所)
2、制备SEM/AFM样品平整断面的实验方案介绍
报告人:程路(徕卡仪器有限公司)
3、Phenom(飞纳), The Essential SEM
张传杰(复纳科学仪器(上海)有限公司)
4、场发射扫描电镜的技术和应用
孙占峰(北京中科科仪股份有限公司)
5、聚焦离子束(FIB)技术在微纳米材料研究中的应用
报告人:彭开武(国家纳米科学中心)