离子减薄技术是一种常见的透射电镜制样技术,其原理是利用高能氩离子轰击Ø3mm样品,获得纳米级薄区供后续TEM观察使用。这一方法在金属材料以及无机非金属材料科学领域都有着非常广泛的应用。但众所周知,离子减薄也是一个技巧性很高的技术:样品的前处理、离子枪加速电压、电流、离子入射角度的选择等等,都对实验成功与否起着至关重要的作用。
本次讲座,以Leica EM RES102型离子减薄仪仪器载体,展示不同样品的实验结果,并详细介绍所涉及的实验技巧,让听众得以充分了解离子减薄的应用范围,同时也能够学习到相应制样技巧。
电镜网络会议(iConference on Electron Microscopy,iCEM)由仪器信息网于2015年在业内首次发起,旨在利用互联网技术为国内的广大电子显微学工作者提供一个突破时间地域限制的免费学习平台,让大家足不出户便能聆听到电子显微学专家的精彩报告,节省时间和资金成本。
电镜网络会议的想法提出后,得到了许多业内专家学者的指导和支持,大家希望能通过网络平台让越来越多的电镜用户更好的掌握电子显微学技术、推动我国电子显微技术的应用发展。
2017年6月21日-23日,仪器信息网将组织举办第三届电镜网络会议(iCEM 2017),并围绕广大用户感兴趣的技术领域组织报告,涉及原位电子显微学技术、高分辨电子显微学技术、材料样品制备技术、EDS/EBSD技术、扫描电镜应用及维护、生物电镜样品制备技术、冷冻电子显微学技术等领域。