安装App图标 移动端
仪器信息网
尊敬的会员请选择进入的厂商展位
开通仪会通服务,请联系客服人员
刘老师15718850776(微信同号)
企业微信二维码

第五届表面分析技术应用论坛暨X射线光电子能谱(XPS)国家标准宣贯会

会议时间:2021年06月03日 08:30 -- 06月03日 17:30

票务类型 参会人数量
培训注册 :500元
日期:6月9日前
- +
大会注册【在读学生】:700元
日期:6月10日—11日
- +
大会注册【非在读学生】:1500元
日期:6月10日—11日
- +
手机号:
验证码: 获取验证码 重新获取(60s)
立即报名

你已报名该会议,请勿重复报名

确定
审核中

会议时间:06月03日 08:30 -- 06月03日 17:30

大会介绍

随着我国科技实力的显著提升,分析测试的发展也日新月异,科研及测试机构、人才队伍不断壮大,实验室环境条件大为改善,仪器装备水平迅速提高,科技产出量质齐升,重大成果举世瞩目。同时,伴随着国家法制的逐步完善以及有关政策的发布,我国分析测试质量保障体系、数据溯源体系和标准体系也在逐步建设完善。而标准是经济活动和社会发展的技术支撑,是国家治理体系和治理能力现代化的基础性制度。

为积极推动表面分析科学与应用技术的快速发展,加强同行之间交流合作,展示表面分析技术最新的进展,由国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心、北京理化分析测试学会表面分析专业委员会、中国分析测试协会高校分析测试分会、全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分技术委员会及仪器信息网联合举办的“第五届表面分析技术应用论坛暨X射线光电子能谱(XPS)国家标准宣贯会”网络研讨会将于6月3日举行。

此次网络大会通过报告专家与参会者的深入交流,旨在共同提升理论与技术水平, 促进表面分析科学研究队伍的壮大。

主办单位:国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心;北京理化分析测试学会表面分析专业委员会;中国分析测试协会高校分析测试分会;全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分技术委员会;仪器信息网

会议日程

06月03日 第五届表面分析技术应用论坛暨X射线光电子能谱(XPS)国家标准宣贯会 我要参会
  • 08:30--08:30 主持人 清华大学 姚文清 高工
  • 08:30--09:00 中国分析测试标准化进展 李景虹 清华大学 国家电子能谱中心 教授/主任,中国科学院院士;中国分析测试协会高校分析测试分会 主任委员
  • 09:00--09:30 仪器分析测试标准化工作进展及发展趋势 李红梅 中国计量科学研究院化学所 所长
  • 09:30--10:00 点击观看 标准化工作与微束分析标准化 赵江 中国科学院化学研究所 研究员
  • 10:00--10:15 点击观看 XPS分析技术在空间和深度维度探测中的应用 鞠焕鑫 高德英特(北京)科技有限公司 应用科学家
  • 10:15--10:30 茶歇 茶歇
  • 10:30--11:00 点击观看 高效高值的光催化制氢过程 朴玲钰 国家纳米科学中心 研究员
  • 11:00--11:30 点击观看 光催化体系光生电荷定向转移的表界面调控 谢腾峰 吉林大学 教授
  • 11:30--12:00 点击观看 利用表面表征技术解析分子二极管内的电荷输运特性 李远 清华大学化学系 副教授
  • 12:00--13:30 午休 午休
  • 13:30--14:00 点击观看 GB/T 30704-2014 表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南 姚文清 清华大学/国家电子能谱中心 正高级工程师/副主任
  • 14:00--14:30 点击观看 1.GB/T 34326-2017 表面化学分析 深度剖析 AES和XPS深度剖析时离子束对准方法及其束流或束流密度测量方法
    2.GB/T 32999-2016 表面化学分析 深度剖析 用机械轮廓仪栅网复型法测量溅射速率
    谢景林 北京大学 教授级高工
  • 14:30--14:45 点击观看 XPS在先进功能材料中的应用 孙文武 赛默飞世尔科技(中国)有限公司 应用专家
  • 14:45--15:15 点击观看 1.GB/T 25185-2010 表面化学分析 X射线光电子能谱 - 荷电控制和荷电校正方法的报告
    2.GB/T 28892-2012表面化学分析 X射线光电子能谱 选择仪器性能参数的表述
    刘芬 中国科学院化学研究所 副研究员
  • 15:15--15:45 点击观看 GB/T 30702-2014表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 实验测定的相对灵敏度因子在均匀材料定量分析中的使用指南 邱丽美 石油化工科学研究院 研究员
  • 15:45--16:00 茶歇 茶歇
  • 16:00--16:30 点击观看 1.GB/T 36401-2018 表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果的报告
    2.GB/T 25188-2010硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的测量 X射线光电子能谱法
    赵志娟 中科院化学所 高级工程师
  • 16:30--17:00 点击观看 1.GB/Z 32490-2016 表面化学分析 X射线光电子能谱 确定本底的程序
    2.GB/T 28893-2012表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 测定峰强度的方法和报告结果所需的信息
    吴正龙 北京师范大学 教授级高工

赞助单位

我要赞助
金牌赞助

往期回顾

会议倒计时

  • 0
  • 0
    小时
  • 0
  • 0

往届会议

联系我们

联系人:吴先生

电话:(010)51654077-8262

手机:18640355925(微信同号)

Email:wuyou@instrument.com.cn

会议赞助:15718850776(微信同号)刘老师

关注微服务 参会不迷路

下载app 回看更便捷

您未报名本次会议,请联系主办方报名

本次会议由中国水产科学研究院主办,若无法参会,请直接联系中国水产科学研究院

联系人:杨臻
联系电话:010-6867124 158 0116 9739

确定
会议人员身份验证

获取验证码 重新获取(60s)
取消 确定

京公网安备:11010202007170号|京ICP备11012191号-2|营业执照证书|增值电信业务经营许可证|人力资源服务许可证|出版物经营许可证

公司名称:北京信立方科技发展股份有限公司|地址:北京市西城区新街口外大街28号普天德胜科技园B座4层

服务协议|隐私政策|Woyaoce.cn Copyright © All Rights Reserved,版权所有,未经书面授权,页面内容不得以任何形式进行复制