第十三届表面分析技术应用论坛暨表面化学分析国家标准宣贯会网络研讨会_质量知声

第十三届表面分析技术应用论坛暨表面化学分析国家标准宣贯会网络研讨会

会议时间：2026年06月09日 09:00 -- 06月10日 18:00

票务类型	参会人数量
培训注册：500元日期：6月9日前	- +
大会注册【在读学生】：700元日期：6月10日—11日	- +
大会注册【非在读学生】：1500元日期：6月10日—11日	- +

手机号：

验证码：获取验证码重新获取(60s)

立即报名

你已报名该会议，请勿重复报名

确定

审核中

会议时间：06月09日 09:00 -- 06月10日 18:00

立即报名

会议日程
参会嘉宾
会议赞助
联系我们

大会介绍

表面分析技术是支撑材料科学、能源、半导体等领域前沿研究的关键手段。当前，我国正大力推进先进化学测量仪器的自主创制与大科学装置的协同应用，能源材料在极端工况下的表界面表征需求日益迫切。正值“十五五”开局之年，化学测量学已成为突破高端科学仪器“卡脖子”难题的关键领域。

聚焦“十五五”时期化学测量学的发展框架与重点攻关方向，本届论坛以“表面分析技术赋能化学测量新范式”为主题，汇聚权威专家，探讨表面分析技术在仪器研发、大装置融合、极端工况表征及标准化建设中的最新进展。会议将于2026年6月9-10日以线上形式召开，由国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心、全国表面化学分析标准化技术委员会、中国分析测试协会高校分析测试分会、北京理化分析测试学会表面分析专业委员会及仪器信息网联合举办。

分享有礼！

扫描下方二维码，点击“邀请榜”生成专属海报，邀请6人以上，即可获得《表面分析技术》或《表面分析》纸质书1本

添加微信（15718850776）领取，截至时间6月10日18:00

下载.png

主办单位：国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心；全国表面化学分析标准化技术委员会；中国分析测试协会高校分析测试分会；北京理化分析测试学会表面分析专业委员会；仪器信息网（北京信立方科技发展股份有限公司旗下网站）

会议日程

06月09日表面分析技术前沿与应用（上）

我要参会

09:00--12:00 专场主持人姚文清清华大学/国家电子能谱中心研究员/副主任
09:00--09:10 致辞李景虹
09:10--09:50 表面分析技术赋能化学测量新范式——从微观表征到智能测量体系李景虹清华大学国家电子能谱中心教授/主任，中国科学院院士；中国分析测试协会高校分析测试分会主任委员
09:50--10:20 表面分析与模型催化吴凯北京大学教授
10:20--10:50 高效・保真：基于Hypulse系统的飞秒激光深度剖析技术及多领域应用葛青亲赛默飞世尔科技（中国）有限公司资深应用专家
10:50--11:20 雷尼绍拉曼光谱技术的最新进展及应用王志芳雷尼绍(上海)贸易有限公司北京分公司应用经理
11:20--11:50 极端条件扫描隧道显微谱仪的研发和在超导研究中的应用潘庶亨中国科学院物理研究所研究员/教授

06月09日表面分析技术前沿与应用（下）

我要参会

13:30--17:30 专场主持人姚文清清华大学/国家电子能谱中心研究员/副主任
13:30--14:00 XPS定量分析矿石样品中“不可见金”的研究万泉中国科学院地球化学研究所研究员
14:00--14:30 表面分析技术前沿进展及多领域联合应用探索冯林爱发科费恩斯（南京）仪器有限公司应用工程师
14:30--15:00 基于X射线吸收谱的电解水制氢材料结构分析研究王建强中国科学院上海应用物理研究所研究员
15:00--15:30 国产光电子能谱技术新进展：近常压XPS、极低温ARPES与全新X5全自动XPS 汪晓平苏州华萃仪器有限公司总经理
15:30--16:00 扫描探针显微镜及其应用冯海凤北京天工标度量子科技有限公司董事长
16:00--16:30 气液界面质谱分析张新星南开大学卓越工程师学院副院长教授
16:30--17:00 基于远端液化方案的干式扫描探针系统研制马瑞松中国科学院物理研究所副研究员
17:00--17:30 ToF-SIMS单细胞成像及其在药物发现研究中的应用汪福意中国科学院化学研究所课题组长/研究员

06月10日表面化学分析国家标准宣贯会（上）

我要参会

08:30--12:10 待定姚文清清华大学/国家电子能谱中心正高级工程师/副主任
08:30--12:10 专场主持人赵志娟（全国表面化学分析标准化技术委员会（SAC/TC 608）委员兼副秘书长）
08:30--09:10 GB/T 19500-2025 表面化学分析 X射线光电子能谱分析方法通则吴正龙北京师范大学教授级高工
09:10--09:50 GB/T 47076-2026 表面化学分析 X射线光电子能谱导电碳基材料XPS结合能的测量徐鹏国家纳米科学中心实验室副主任/高级工程师
09:50--10:20 费勉科技_X射线光电子能谱仪介绍赵嘉峰费勉科技（上海）股份有限公司董事长
10:20--11:00 表面化学分析二次离子质谱用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度李展平清华大学分析中心高级工程师
11:00--11:30 近常压技术在表界面研究中的应用王珍贝克斯帝尔科技（北京）有限公司销售经理
11:30--12:10 GB/T 45772-2025 表面化学分析电子能谱 X射线光电子能谱分析中X射线致材料非预期损伤的识别、评估和校正程序姚文清清华大学/国家电子能谱中心正高级工程师/副主任

06月10日表面化学分析国家标准宣贯会（下）

我要参会

13:30--16:50 专场主持人赵志娟（全国表面化学分析标准化技术委员会（SAC/TC 608）委员兼副秘书长）
13:30--14:10 GB/T 32996-2025《表面化学分析辉光放电发射光谱法分析金属氧化物膜》解读徐建上海市计量测试技术研究院有限公司教授级高工
14:10--14:50 GB/T 45773-2025 《表面化学分析 X射线光电子能谱全扫描谱的准实时信息含碳化合物表面污染的识别和校正规则》解读刘芬中国科学院化学研究所副研究员
14:50--15:30 GB/T 45768-2025 表面化学分析二次离子质谱单离子计数飞行时间质谱分析器的强度标线性谢方艳中山大学分析测试中心正高级实验师
15:30--16:10 GB/T 20175-2025 表面化学分析溅射深度剖析用层状膜系为参考物质的优化方法陈建中山大学研究员
16:10--16:50 GBT 45770-2025_ISO 13095_2014 表面化学分析原子力显微术用于纳米结构测量的原子力显微镜探针柄轮廓原位表征程序孙洁林上海交通大学研究员