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光学薄膜设计、加工与分析测量专题研讨会

会议时间:2023年05月23日 13:25 -- 05月23日 15:40

票务类型 参会人数量
培训注册 :500元
日期:6月9日前
- +
大会注册【在读学生】:700元
日期:6月10日—11日
- +
大会注册【非在读学生】:1500元
日期:6月10日—11日
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会议时间:05月23日 13:25 -- 05月23日 15:40

大会介绍

  光学薄膜设计和加工涉及薄膜涂层形成机理、工艺过程控制和质量控制测试技术,如何将薄膜涂层的理论和实践应用相结合,如何使用最先进的光学仪器对镀膜进行测量和性能表征,一直是光学薄膜行业面临的挑战。

  本次专题研讨会将提供一个独特的机会,薄膜设计、制造专家与光学测量专家一起为您带来薄膜产品的完整工作流程。


会议日程

05月23日 光学薄膜设计、加工与分析测量专题研讨会 我要参会
  • 13:25--13:30 致辞欢迎 宋建华 安捷伦科技(中国)有限公司 资深分子光谱工程师
  • 13:30--14:00 强激光合束薄膜元件及系统 焦宏飞 同济大学物理科学与工程学院精密光学工程技术研究所 教授,博士生导师
  • 14:00--14:30 OptiLayer计算单层膜的光学系数 何耀 北京欧唐科技发展有限公司 产品专家
  • 14:30--15:00 超窄带滤光片镀制 汤兆胜 上海兆九光电技术有限公司 博士,总经理
  • 15:00--15:30 紫外可见和近红外带通滤光片的测试 蒋龙平 安捷伦科技(中国)有限公司 分子光谱应用技术经理
  • 15:30--15:40 问答互动 全体成员

会议倒计时

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