CTI华测检测半导体检测及分析中心

个人简介:沈玄博士，毕业于南京大学和布鲁克海文国家实验室（联合培养）。先后就职于赛默飞，欧陆，蔡司，华测检测等知名设备商和第三方实验室。拥有16年显微失效分析经验，公开发表国际期刊20余篇，大会报告4篇，引用次数超1800次，H指数14。研究领域涵盖非易失性存储器，硅光器件，先进制程/光刻工艺等。目前全权负责华测检测半导体检测及分析中心失效分析部门的管理和运营工作，对于芯片可靠性验证，破坏性物理分析，电学/物性失效分析有丰富的行业经验。 查看更多