胜科纳米（苏州）股份有限公司

个人简介:电子信息工程专业，负责封装级及芯片级的综合分析实验；拥有十多年的实验室管理及应用经验；现任职胜科纳米（苏州）股份有限公司综合分析部门技术副总监，主要负责包含但不局限于集成电路芯片、光器件、分立器件、MEMS等半导体器件失效分析的技术支持与实验难点的攻克；主导多个大客户技术攻关项目，辅助推动客户新产品研发进度；在职期间参与主导多项专利撰写与申报，代表有《一种3D堆叠封装器件的失效定位方法和装置》，《一种高阶芯片的失效分析方法》；在多项国际会议上发表过多篇论文，代表有《 Studies and Application of Failure Analysis Technology for Semiconductor Advanced Processes 》等； 查看更多