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“2020年材料表征与分析检测技术”主题网络研讨会
会议时间：2020年12月15日 09:00 -- 12月16日 17:00
| 票务类型 | 参会人数量 |
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| 培训注册 ：500元 日期：6月9日前 |
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大会注册【在读学生】：700元 日期：6月10日—11日 |
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大会注册【非在读学生】：1500元 日期：6月10日—11日 |
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你已报名该会议，请勿重复报名
会议时间：12月15日 09:00 -- 12月16日 17:00
材料表征与检测技术，是关于材料的成分、结构、微观形貌与缺陷等的分析、测试技术及其有关理论基础的科学。是材料科学与工程的重要组成部分，是材料科学研究、相关产品质量控制的重要基础。
基于此，仪器信息网（instrument.com.cn）将在2020年12月15-16日举办“2020年材料表征与检测技术”主题网络研讨会，两天的会议将分设成分分析、表面与界面分析、结构形貌分析、热性能分析等四个专场，邀请材料科学领域相关检测技术研究与应用专家、知名科学仪器企业技术代表，以线上分享报告形式，与在线网友交流互动，针对材料科学相关表征及分析检测技术进行探讨。为同行搭建学习互动平台，增进学术交流。
主办单位：仪器信息网
我要参会
电子探针的分析特点和国内市场情况介绍
胡晋生
日本电子 产品经理
不同色谱、质谱手段应对成分解析挑战的思路分享 ---善用小工具、实现大效用
侯彦杰
沃特世科技（上海）有限公司 应用工程师
热脱附在材料散发及异味物质监测中的应用与相关法规介绍
张兵
玛珂思仪器技术支持经理 技术支持经理
X射线荧光光谱仪在镀层样品分析中的应用
佘晓萌
赛默飞世尔科技（中国）有限公司 应用工程师
X射线荧光光谱在高温合金成分检测中的应用
孙晓飞
国家钢铁材料测试中心 高级工程师
我要参会
电催化还原反应中的表面吸附调控及其原位拉曼研究
陈建
中山大学 研究员
SPM——表面分析与界面观测
陈强
岛津企业管理（中国）有限公司 SPM产品担当
XPS技术及在材料表界面分析中的应用
刘芬
中国科学院化学研究所 副研究员
基于扫描探针技术在表面及界面进行纳米尺度物理性质定量表征
孙万新
布鲁克 资深应用科学家
光电子能谱(XPS)中复杂谱峰的解析
吴正龙
北京师范大学 教授级高工
我要参会
电子背散射衍射标定方法研究
曾毅
中国科学院上海硅酸盐研究所 研究员
聚焦离子束-电子束双束设备JIB-4700F介绍
席得圣
日本电子 应用工程师
赛默飞K-Alpha光学实时XRD技术及应用介绍
居威材
赛默飞化学分析事业部智能制造与过程分析 应用工程师
我要参会
热分析技术在材料研究领域应用中的常见问题分析
丁延伟
中国科学技术大学 教授级高级工程师/博士生导师
于细微处见学问-热分析坩埚的选择和应用
陈成鑫
梅特勒-托利多国际贸易(上海)有限公司 热分析技术专家
示差扫描量热法DSC技术进展及其在高分子材料表征中的应用
陈咏萱
南京大学 胡文兵教授课题组成员
薄膜材料的热物性测量
陶冶
中国科学院上海硅酸盐研究所 助理研究员
金牌赞助
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本次会议由中国水产科学研究院主办，若无法参会，请直接联系中国水产科学研究院
联系人：杨臻
联系电话：010-6867124 158 0116 9739
