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第四届“表面分析技术应用论坛——表面分析技术在新材料研究中的应用”暨“表面化学分析国家标准宣贯会”
会议时间：2020年05月08日 09:20 -- 05月08日 18:00
| 票务类型 | 参会人数量 |
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| 培训注册 ：500元 日期：6月9日前 |
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大会注册【在读学生】：700元 日期：6月10日—11日 |
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大会注册【非在读学生】：1500元 日期：6月10日—11日 |
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会议时间：05月08日 09:20 -- 05月08日 18:00
表面科学是上世纪60年代后期发展起来的一门学科，目前已经成为国际上最为活跃的学科之一。材料表面的成分、结构、化学状态等与内部有明显的不同，而表面特性对材料的物理、化学等性能影响很大。随着材料科学、化学化工、半导体及薄膜、能源、微电子、信息产业及环境领域等高新技术的迅猛发展，对于表面分析技术的需求日益增多。
为积极推动表面分析科学与应用技术的快速发展，加强同行之间交流合作，展示表面分析技术最新的进展，由国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心、北京理化分析测试学会表面分析专业委员会、中国分析测试协会高校分析测试分会、全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分技术委员会及仪器信息网联合举办的“第四届表面分析技术应用论坛——表面分析技术在新材料研究中的应用”暨“表面化学分析国家标准宣贯会”主题网络会议将于5月8日举行。
此次网络会议通过报告专家与参会者的深入交流，旨在共同提升理论与技术水平, 促进表面分析科学研究队伍的壮大。
主办单位：国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心； 北京理化分析测试学会表面分析专业委员会；中国分析测试协会高校分析测试分会；全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分技术委员会；仪器信息网
我要参会
主持人致辞
姚文清
清华大学/国家电子能谱中心 正高级工程师/副主任
同步辐射光电子能谱技术及其应用
朱俊发
中国科学技术大学 教授
我要参会
国家标准“GB/T 33498-2017表面化学分析 纳米结构材料表征”宣贯
王海
中国计量科学研究院 实验室主任 / 研究员
XPS表面分析联用技术和应用——REELS、UPS、Raman
史南南
赛默飞世尔科技（中国）有限公司 应用工程师
XPS中绝缘样品和薄膜样品分析
刘芬
中国科学院化学研究所 副研究员
光电子能谱（XPS）定量分析综述
吴正龙
北京师范大学 教授级高工
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本次会议由中国水产科学研究院主办，若无法参会，请直接联系中国水产科学研究院
联系人：杨臻
联系电话：010-6867124 158 0116 9739
