蔡司全新双束FIB-SEM：高通量纳米加工与3D分析平台_其他

蔡司全新双束FIB-SEM：高通量纳米加工与3D分析平台

其他光学仪器及设备

会议时间: 2017-09-08 10:00

主讲老师: 任祺君 |

所在公司: 卡尔蔡司(上海)管理有限公司

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报告介绍主讲老师

报告介绍

本次研讨会将会介绍蔡司最新发布的双束FIB-SEM系统，Crossbeam 550以及其在材料科学领域的应用。通过全新设计的Capella+离子镜筒，结合蔡司专利的Gemini电子镜筒，使其在高分辨成像，制样，高通量微纳加工以及3D重构等应用上具有极大的优势。结合Crossbeam 550 的FIB的加工能力和SEM的成像能力，讲座将会详细介绍其在材料，半导体，纳米材料，甚至生物等各个领域的应用。

主讲老师

任祺君

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任祺君，卡尔蔡司（上海）管理有限公司电子显微镜产品应用专家，博士，长期从事电子显微镜的产品、技术及应用开发工作，具有丰富的SEM和FIB应用经验。精通SEM及FIB在纳米材料，半导体，微纳加工等领域的应用。

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