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HAST高加速寿命试验 PCT

认证资质：
检测价格：电议
检测周期：3-7天
检测类型：标准检测
送样方式：不限

领域分类：电子电器-电子产品

检测项目：可靠性试验

服务地点：全国

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详细信息

检测内容

加速寿命试验，是指在进行合理工程及统计假设的基础上，利用与物理失效规律相关的统计模型对在超出正常应力水平的加速环境下获得的可靠性信息进行转换，得到试件在额定应力水平下可靠性特征的可复现的数值估计的一种试验方法。加速寿命试验采用加速应力进行试件的寿命试验，从而缩短了试验时间，提高了试验效率，降低了试验成本，其研究使高可靠长寿命产品的可靠性评定成为可能。按照试验应力的加载方式，加速寿命试验通常分为恒定应力试验、步进应力试验和序进应力试验。一般实验温度范围105度-132度，湿度范围75%RH-100%RH，压力 0-0.196MPA

检测标准

产品名称	检测标准	检测项目
半导体封装芯片	IEC60068-2-66	高加速温湿度寿命实验

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资质证书

CNAS
CMA

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