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近场光学测试设备(SIG-400)

认证资质：
检测价格：电议
检测周期：7-15天
检测类型：标准检测
送样方式：快递邮寄,客户亲自送样

领域分类：失效分析-设计审查

检测项目：光学分析

服务地点：全国

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详细信息

服务背景

设备简介：

近场光学测试设备SIG-400可从多角度拍摄光源影像，建立一个光源亮度和色度输出的三维空间图像。在LED测量方面，近场光学测试设备SIG-400支持纵向和横向测试，适应几乎所有常见的光源，可采集和整理LED光源或相似的小面积光源的多角度亮度及色度值，精准的刻划出实际的光效率。汇总并进一步做光效率的分析和光学设计中射线的配置。SIG-400 是对LED 光源的优化测量系统，可减少系统的体积及降低成本，并简化测量的工序。SIG-400 在测量整个待测件的时，能够精准的定位到待测件的中心点，经测试后误差不超过15 微米。

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检测内容

应用范围：

芯片产品的发光均匀度分析

芯片产品的来料检测

封装产品的发光均匀度分析

封装产品的失效分析（色差方向）

封装产品的来料检测

光源产品不同角度的光色参数

芯片及封装产品的寿命评估

设备功能及特点：

测量LED或是小面积光源所有角度近场光强度分布

测量LED或是小面积光源近场色度分布

提供光学设计与原型测试的近场模型（适用多款软件）

LED芯片、颗粒及组件的优化测量系统

多样光学结构配置强化视野范围及分辨率

详细参数：

量测功能	亮度、光强度、颜色、相关色温、CIEx,y、u',v'、△E
量测功能	亮度、光强度、颜色、相关色温、CIEx,y、u',v'、△E
控制软件	自动位移及影像采集控制
	实时影像
	屏幕录像播放
	灰阶与色彩显示
	记录环境影像提供校正
	屏幕光标校正功能
分析图表	亮度横截面图
	烛光横截面图
	亮度3D表面绘图
	亮度等量绘图
	光强度角度分布图表
	多影像及图表显示
分辨率	512×512像素
标准视场(mm）	2,4,7,12,25 and 50
颜色测量	符合CIE 1931 的XYZ滤镜
操作空间	70cm×127cm
极角	0 to 360°
方位角	0 to 180°
角度位移量	最小 0.1°