广东金鉴检测科技有限公司
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领域分类：电子电器-电子电气
检测项目：材料范围：除磁性材料之外的任何无机材料
服务地点：全国
FIB制作TEM样品
检测内容样品制备是TEM分析技术中非常重要的一环， 但由于电子束的穿透力很弱， 因此用于TEM的样品必须制备成厚度约为0.1μm的超薄切片。要将样品切割成如此薄的切片，许多情况下需要用到FIB(Focus Ion Beam， 聚焦离子束) 进行TEM样品的制备。
| 产品名称 | 检测标准 | 检测项目 |
| FIB制作TEM样品 | 达到Electron transparent厚度 | 金鉴实验室双束FIB承接TEM制样 |
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