AEC-Q100认证测试

AEC-Q100是AEC的第一个标准，AEC-Q100于1994年6月首次发表，现经过了十多年的发展，AEC-Q100已经成为汽车电子系统中集成电路评价的通用标准。对于车用芯片来说AEC-Q100也是最常见的应力测试(Stress Test)认证规范。

AEC-Q100主要是针对车载应用的集成电路产品所设计出的一套应力测试标准,此规范对于提升产品信赖性品质保证相当重要。AEC-Q100是预防可能发生各种状况或潜在的故障状态，对每一个芯片进行严格的质量与可靠度确认，特别对产品功能与性能进行标准规范测试。

测试项目：

A组 加速环境应力测试

B组 加速寿命模拟测试

C组 封装组合完整性测试

D组 芯片晶元可靠度测试

E组 电气特性确认测试

F组 缺陷筛选测试

G组 腔体封装完整性测试

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