飞行时间二次离子质谱分析（TOF-SIMS）

飞行时间二次离子质谱技术（Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry，TOF-SIMS）是一种非常灵敏的表面分析技术，通过用一次离子激发样品表面，打出极其微量的二次离子，根据二次离子因不同的质量而飞行到探测器的时间不同来测定离子质量，具有极高分辨率的测量技术。

TOF-SIMS可以提供表面、薄膜、界面甚至三维样品的元素、分子等结构信息，其特点在二次离子来自表面单个原子层分子层（1nm以内），仅带出表面的化学信息，具有分析区域小、分析深度浅和不破坏样品的特点。

广泛应用于物理，化学，微电子，生物，制药，空间分析等工业和研究方面。

飞行时间二次离子质谱分析（TOF-SIMS）常用于：

1）当产品表面存在微小的异物，而常规的成分测试方法无法准确对异物进行定性定量分析，可选择TOF-SIMS方法，TOF-SIMS能分析≥10μm直径的异物成分。

2）当产品表面膜层太薄，无法使用常规测试进行成分分析，可选择TOF-SIMS定性分析膜层的成分。

3）当产品表面出现异物，但是未能确定异物的种类，利用TOF-SIMS成分分析，不仅可以分析出异物所含元素，还可以分析出异物的分子式，包括有机物分子式。

4）当膜层与基材截面出现分层等问题，但是未能观察到明显的异物痕迹，可使用TOF-SIMS分析表面痕量物质成分，以确定截面是否存在外来污染，检出限高达ppm级别。

TOF-SIMS应用实例

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