2016 LED失效分析与封装技术专题研讨会_机构动态_深圳市美信检测技术股份有限公司

2016 LED失效分析与封装技术专题研讨会

发布时间：2016-09-20 14:11:14

一场足以改变产品良率的研讨会

主办方：	深圳市美信检测技术股份有限公司
协办单位：	深圳市半导体照明产业发展促进会
赞助单位：	深圳市新则兴科技有限公司先驰精密仪器（东莞）有限公司
媒体支持：	LEDinside 中国LED网

LED失效可能发生在产品生命周期的各个阶段，产品设计、原材料、工艺筛选、可靠性试验、现场使用都可能发生失效现象，因此，深刻理解LED失效分析对产品的生产和使用意义非凡。

为了更好的服务LED行业客户，创造一个长期稳定的交流平台，便于企业沟通学习，同时分享美信检测于日常工作中积累的经典案例，帮助客户解决LED产品工艺、技术、测试等各种影响产品品质的问题，美信检测将于9月23日在深圳·恒丰海悦国际酒店举办2016LED失效分析与封装技术专题研讨会，广邀周边地区LED企业的专业人士参加。

时间地址

时间：	2016年9月23日
地点：	深圳市美信检测技术股份有限公司深圳市宝安区石岩镇松白路石岩湖北大方正科技园A3栋一楼

课题安排

13:00-13:30	签到
13:30-13:50	致辞
13:50-14:30	LED产品失效分析技术与案例分享 1. LED失效分析简介 2. 固晶和互连不良引起的失效 3. 塑封不良引起的失效 4. 芯片、封装及应用过程中物料不良引起的LED失效
14:30-14:40	互动问答
14:40-14:55	活动茶歇
14:55-15:35	显微分析技术在LED产品分析中的应用
15:35-15:45	互动问答
15:45-16:25	LED灯具结温测试方法及热特性分析 1. LED灯具散热性能的评价方法 2. 电学法实现结构热阻测量的基本原理 3. 不同电气连接条件下等效K系数研究 4. LED结构热阻模型的应用
16:25-16:35	互动问答
16:35-16:45	活动交流

讲师介绍

王君兆

美信检测研发经理

中国机械工程学会失效分析分会失效分析专家

IPC China Apex 4-14 CN工作组专家

在电子封装、组装领域有多年的产品研发、工艺开发经验，并于国外核心期刊《Journal of Materials Processing Technology》发表多篇论文。

张东旭

深圳市新则兴科技有限公司产品应用高级工程师

章锐华

美信检测研发中心失效分析专家

在LED光学设计方面拥有非常丰富的实践经验与理论基础，曾在第四届LED照明光学技术研讨会会议文集发表专业论文，并已申请多个专利。

专利：一种照明及设备控制、终端，专利号：ZL 2014 2 0423354.2；一种芯片级白光LED，专利号：ZL 2014 2 0423870.5。

拟邀企业

美的	创维	佳光电子	创显光电	雷曼光电	迈锐光电	艾比森光电	利亚德光电
瑞丰光电	奥拓电子	晶台光电	Flextronics	Microsoft	Philips	等等