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领域分类：材料-半导体
检测项目：TEM透射电子显微镜
服务地点：全国
透射电子显微镜 (Transmission Electron Microscope)是一个强大的多功能系统，可在半导体器件分析、材料结构分析、细胞生物学、纳米技术研究中提供2/3D表征。能够更好地快速洞察和了解半导体结构、三维大分子结构、合金的成分及组分分布、晶体生长中缺陷的分布及类型等。融合了快速、多通道、高分辨率 STEM 成像和 TEM 成像功能与精确成分分析功能（super-EDX)，可快速、准确地分析材料的结构、成分信息。获取特定结构的关键尺寸，完成客户对于高时效性、高准确性的需求。
CTI华测检测为了更好地满足半导体行业客户的需求，助力协助更多的客户解决在芯片设计与生产中遇到的各类问题，开展了TEM透射电镜测试服务。
对各种半导体器件及材料样品进行形貌（如物相分布、粒径、分散性等）观察，分析材料晶体结构并在微观尺度观察，配合能谱仪对样品进行成分分析。
常规：3个工作日。
注:如需加急请咨询客服。
检测标准| 产品名称 | 检测标准 | 检测项目 |
| 半导体 | CNAS、CMA | TEM透射电子显微镜测试 |
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华测检测认证集团股份有限公司位于广东省广州市,为您提供TEM透射电子显微镜测试，检测周期3-7天，检测价格电议，检测类型标准检测，送样方式不限，领域分类材料-半导体。
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