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领域分类：材料-半导体
检测项目：超声波扫描显微镜
服务地点：全国
超声波扫描显微镜（SAT）是透过反射、穿透、分散、材料变化与缺陷产生不同讯号，进而产生不同检验图像作为分析。SAT运用各种不同频率的探头来做各种样品的非破坏检测，其可无损的检测IC内部结构，可分层、多层扫描检测IC内部各项缺陷（裂纹、分层、夹杂物、附着物、空洞、孔洞、晶界边界等），并检测出IC表征和测量材料的属性。
检测内容? 非破坏性、无损伤检测内部结构
? 可分层扫描、多层扫描
? 可检测各种缺陷（裂纹、分层、夹杂物、附着物、空洞、孔洞、晶界边界等）
? 表征和测量材料属性
低频：15MHz、25MHz、30MHz
中间：50MHz、75MHz
高频：100MHz、120MHz、230MHz
| 产品名称 | 检测标准 | 检测项目 |
| 半导体 | CNAS、CMA | 超声波扫描显微镜测试（SAT） |
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