热辐射故障定位显微镜 (Thermal EMMI）

热辐射故障定位显微镜 (Thermal EMMI）

热辐射故障定位显微镜（Thermal EMMI）是一种基于热成像技术的故障检测设备，能够非接触、无损伤地检测电子元器件在运行时产生的热辐射变化，从而精准定位故障点。该设备在半导体芯片、集成电路、封装器件等领域具有广泛的应用，为质量控制、故障分析和研发测试提供了强有力的技术支持。

应用场景

• IC封装及IC内部短路分析

• 低阻抗分析 ( <10 ohm)

• 非破坏性检测 (IC可不开盖)

• PCB/模块的金属线路缺陷

• TFT-LCD漏电/有机EL漏电定位

• 新制程开发阶段device内部异常发热的观测

服务优势

   专业设备   

我们拥有先进的热辐射故障定位显微镜设备，能够满足不同领域和场景的检测需求。

   丰富经验   

我们的技术团队具备丰富的热辐射检测经验，能够为客户提供专业的技术支持和解决方案。

   定制化服   

我们提供定制化服务，根据客户需求进行针对性的检测方案设计和实施，确保检测结果的准确性和可靠性。

   全面报告   

检测完成后，我们将提供详细的检测报告，包括热辐射图像、故障点位置、温度分布等信息，帮助客户全面了解电子元器件的工作状态和故障情况。

服务流程