北京软件产品质量检测检验中心有限公司
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领域分类:失效分析-其他
检测项目:失效分析,显微分析,无损检测,异物分析
服务地点:全国
3D X-Ray无损检测CT测试
1.观测DIP、SOP、QFP、QFN、BGA、Flipchip等不同封装的半导体、电阻、电容等电子元器件以及小型PCB印刷电路板;
2.观测器件内部芯片大小、数量、叠die、绑线情况;
3.观测芯片crack、点胶不均、断线、搭线、内部气泡等封装缺陷,以及焊锡球冷焊、虚焊等焊接缺陷。
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