X 射线分析技术是文化遗产领域无损 / 微损检测的核心技术体系，基于 X 射线的穿透性、荧光效应、衍射特性，通过检测 X 射线与遗产材质的相互作用信号（如元素特征荧光、晶体衍射图谱、透射成像），实现对文化遗产的成分、结构、工艺等维度的科学分析。其核心优势在于不破坏遗产本体（或仅需微量样品），适配文物、古建筑、遗址等各类文化遗产的分析需求，主流技术包括X 射线衍射法（XRD），X 射线荧光光谱法(XRF)，微束 X 射线荧光光谱法（μ-XRF）及X 射线计算机断层扫描 （XCT/XRM）。 本报告我们将结合具体的应用案例和大家一起探讨多种X射线分析技术在文物考古领域的应用进展，帮助人们解读古代工艺与历史，守护这些不可再生文物的完整性，让沉睡千年的文物 "开口讲述" 它们的故事。