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仪器信息网 3i讲堂 布鲁克的平插能谱仪与微区XRF介绍
[报告]布鲁克的平插能谱仪与微区XRF介绍
开始时间: 2023-12-19 15:30
主讲老师: 陈剑锋 | 应用科学家
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报告相关会议
第五届材料表征与分析检测技术网络会议icmc2023
2023年12月18日 14:00 -- 12月21日 12:00
材料是社会进步的重要物质条件,材料的创新不仅是发展各种颠覆性技术的核心,更是国家科技发展水平的重要体现。而在材料的研究过程中,设计和制备的每一个阶段都需要应用不同的表征与分析检测方法去了解其多样化结构、评价其不同性能,从而为生产工艺的改进提供科学依据,满足使用的要求。可以说,材料的研究进展极大地依赖材料表征与分析检测技术的发展水平。基于此,为帮助广大工作者了解前沿表征与分析检测技术,解决材料表征与分析检测难题,开展表征与检测相关工作,仪器信息网于2023年12月18-21日举办“第五届材料表征与分析检测技术网络会议”,围绕成分分析、微区结构与形貌分析、表面和界面分析、物相及热性能分析等内容,设置6个专场,邀请材料科学领域相关检测技术研究与应用专家、知名科学仪器企业技术代表,以在线分享报告的形式,对材料科学相关表征及分析检测技术进行深入探讨,同时也为参会者提供一个突破时间地域限制的免费学习、交流平台。欢迎大家报名参会!
报告介绍
报告介绍:
布鲁克独有的平插能谱探头因其独特的设计,具有更大的立体角,使能谱分析在低能谱线的采集方面有很大的优势,尤其是目前比较流行的纳米结构材料的分析,而微区荧光在检测限上的优势则是目前工业,地质,环境检测等领域进行重金属元素,微量元素的强有力的工具,在相关的领域中也得到了越来越广泛的应用。本报告将主要介绍布鲁克公司的平插能谱和微区荧光产品及其应用。
主讲老师:
陈剑锋
2003年毕业于中科院长春应化所,主要研究方向是高分辨电子显微镜在高分子结晶中的应用,毕业后加入FEI,负责SEM/SDB的应用、培训以及市场等推广工作。2011年加入安捷伦公司负责SEM的市场和应用工作,2018年在赛默飞负责SEM的应用工作。2021年加入布鲁克,负责EDS,、EBSD、 Micro-XRF等产品的技术支持工作,对电子显微镜的相关应用具有多年的实操经验。
参会说明:

一、报名贴士(敷衍填写将不予审核)

  • 1、请认真填写各项,您的手机号为您的参会凭证。

  • 2、报名后,参与直播可获取会后资料、加交流群。

二、参会方式(手机电脑均可参会)

  • 1、直播前一周,助教会进行审核。审核通过后,会发送参会链接给报名手机号。

  • 2、如无法正常参会,请拨打页面下方电话,帮您解决

三、会议资料(交流群,会后视频)

  • 1、报名并参与直播可与专家问答交流。会议群会在直播当天展示,会议ppt无法提供。

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