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仪器信息网 3i讲堂 场发射俄歇微探针JAMP-9510F在半导体材料表面分析中的应用
[报告]场发射俄歇微探针JAMP-9510F在半导体材料表面分析中的应用
开始时间: 2022-06-14 10:00
主讲老师: 张元 | 应用工程师
所在公司: 日本电子株式会社
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报告相关会议
第八届表面分析技术应用论坛暨表面化学分析国家标准宣贯会
2022年06月14日 09:00 -- 06月15日 12:30
随着我国科技实力的显著提升,分析测试的发展也日新月异,科研及测试机构、人才队伍不断壮大,实验室环境条件大为改善,仪器装备水平迅速提高,科技产出量质齐升,重大成果举世瞩目。为积极推动表面分析科学与应用技术的快速发展,加强同行之间交流合作,展示表面分析技术最新的进展,推动分析测试质量保障体系、数据溯源体系和标准体系的建设,由国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心、全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分技术委员会、中国分析测试协会高校分析测试分会、北京理化分析测试学会表面分析专业委员会及仪器信息网联合举办的“第八届表面分析技术应用论坛暨表面化学分析国家标准宣贯会”,将于2022年6月14-15日举行。论坛以线上会议形式,通过报告专家与参会者的深入交流,旨在共同提升理论与技术水平, 促进表面分析科学研究队伍的壮大。会议主题:能源化学与碳中和
报告介绍
报告介绍:
日本电子的场发射俄歇微探针装置JAMP-9510F能够实现纳米级空间分辨率下试样表层的元素分布、化学组成、化合态分析等材料表征。无论是金属试样还是绝缘材料,JAMP-9510F装载的静电半球形分析器、场发射电子枪的大束流、高精度全对中试样台以及悬浮式离子枪都能提供多种表面分析方法。
主讲老师:
张元
张元,日本电子应用工程师。2016年毕业于上海交通大学材料科学与工程专业,获工学学士学位;2019年毕业于京都大学大材料工学研究科,获工学硕士学位。2019年入职日本电子,现担任应用工程师一职,主要负责场发射俄歇微探针与钨灯丝扫描电镜的应用与培训。
参会说明:

一、报名贴士(敷衍填写将不予审核)

  • 1、请认真填写各项,您的手机号为您的参会凭证。

  • 2、报名后,参与直播可获取会后资料、加交流群。

二、参会方式(手机电脑均可参会)

  • 1、直播前一天,助教会统一审核。审核通过后,会发送参会链接给报名手机号。

  • 2、如无法正常参会,请拨打页面下方电话,帮您解决

三、会议资料(交流群,会后视频)

  • 1、报名并参与直播可与专家问答交流。会议群会在直播当天展示,会议ppt无法提供。

  • 2、关注【仪器信息网微服务】,微信提醒会议进度,便捷查阅近期会议及视频回放。

  • 3、下载【仪器信息网app】,获得会后回放视频、免费下载10万篇标准、获得实验室操作实战宝典等精品资料。

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